Канышина М.В.

UptoLike

Учебно-методические материалы автора

Определение концентрации Ge в эпитаксиальных пленках SixGe1-x/Si методом Оже-спектроскопии. Максимов Г.А
Просмотреть (PDF)
Максимов Г.А., Николичев Д.Е., Канышина М.В.
Максимов Г.А., Николичев Д.Е., Канышина М.В. Определение концентрации Ge в эпитаксиальных пленках SixGe1-x/Si методом Оже-спектроскопии: Описание лабораторной работы. - Нижний Новгород: ННГУ им. Н.И. Лобачевского, 2002. - 40 с.