Исследование поверхности твердых тел методом сканирующей туннельной микроскопии (СТМ). Филатов Д.О

UptoLike

Исследование поверхности твердых тел методом сканирующей туннельной микроскопии (СТМ). Филатов Д.О

РЕШЕНИЕ (файл) вывод, красное-белое: 

Составители: 

Формат файла: 

PDF

Ключевые слова: 

  • методические указания

Количество страниц: 

22
В лабораторной работе рассматриваются принципы работы сканирующего туннельного микроскопа и методика исследования топографии и туннельной спектроскопии поверхности твердых тел. Предназначена для студентов специализации "Физика твердотельных наноструктур", обучающихся по специальности 200.200 "Микроэлектроника и полупроводниковые приборы". Описание лабораторной работы подготовлено в Научно-образовательном центре сканирующей зондовой микроскопии ННГУ в рамках совместной Российско-американской программы "Фундаментальные исследования и высшее образование".

Рекомендуемые учебно-методические материалы

Агарев В.Н.
Агарев В.Н. Моделирование резонансного туннелирования в полупроводниковых наноструктурах: Описание лабораторной работы. - Нижний Новгород: Нижегородский гос. ун-т им. Н.И. Лобачевского, 2008. - 5 с.
Агарев В.Н.
Агарев В.Н. Моделирование энергетического спектра в полупроводниковых наноструктурах методом пристрелки: Описание лабораторной работы. - Нижний Новгород: Нижегородский гос. ун-т им. Н.И. Лобачевского, 2008. - 6 с.
Байдусь Н.В., Звонков Б.Н.
Байдусь Н.В., Звонков Б.Н. Выращивание полупроводниковых гетероструктур с квантовыми точками InAs/GaAs методом ГФЭ МОС: Описание лабораторной работы. - Нижний Новгород: ННГУ им. Н.И. Лобачевского, 2001. - 18 с.
Байдусь Н.В., Звонков Б.Н.
Байдусь Н.В., Звонков Б.Н. Выращивание эпитаксиальных слоев арсенида галия методом газофазной эпитаксии из металлоорганических соединений: Описание лабораторной работы. - Нижний Новгород: ННГУ им. Н.И. Лобачевского, 1999. - 16 с.
Ершов А.В., Машин А.И., Касьянов Д.Е.
Ершов А.В., Машин А.И., Касьянов Д.Е. Инфракрасная спектроскопия аморфного кремния: Лабораторная работа по курсу "Физика аморфных полупроводников". - Нижний Новгород: ННГУ им. Н.И. Лобачевского, 2001. - 24 с.
Филатов Д.О., Круглов А.В.
Филатов Д.О., Круглов А.В. Исследование поверхности твердых тел методом сканирующей туннельной микроскопии (СТМ). Описание лабораторной работы. - Нижний Новгород: НОЦ СЗМ Нижегородского государственного университета, 2001. - 22 с.