Составители:
Рубрика:
28
4. Содержание отчета
4.1. Цель и краткое содержание работы.
4.2. Схемы измерений.
4.3. Таблицы и графики, полученные при измерениях,
4.4. Краткие выводы по работе.
Литература: [I], с. 253 ... 256, [3], с. 367 ... 408
Содержание
Общие указания к выполнению лабораторных работ . . . . . . . . . . . 3
Библиографический список . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .4
Работа 1. Исследование характеристик полупроводниковых
интегральных микросхем . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .4
Работа 2. Исследование характеристик и конструкции
элементов гибридных интегральных микросхем . . . . . . . . . . . . . . . .9
Работа 3. Исследование работы интегрального биполярного
транзистора в микрорежиме . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .14
Работа 4 Исследование работы оптоэлектронных элементов . . . . . 21
