Космическое материаловедение. Акишин А.И. - 172 стр.

   При использовании на борту КА плазменных и ионных ракетных
двигателей возникают условия для загрязнения внешних поверхностей
соседних устройств, например солнечных батарей, продуктами распы-
ления материалов от струй двигателей. Одновременно эти продукты
будут попадать в облако СВА [10-12].

    Методы изучения влияния продуктов СВА на материалы КА
   При космическом полете и при испытании в экспериментальных
имитационных камерах на поверхности оборудования КА (зеркальные
поверхности, оптические элементы и т.д.) оседают потоки молекул и
твердых микрочастиц, выделяющихся из конструкционных материалов,
оборудования, которые загрязняют поверхности, изменяют их рабочие
характеристики. Образующаяся вокруг КА СВА, имеет состав, резко
отличающийся от состава верхней невозмущенной атмосферы Земли.
   Состав СВА различен в условиях космического полета и при испы-
тании в имитационной вакуумной камере из-за технологических загряз-
нений последней. Это обстоятельство необходимо учитывать при оцен-
ке влияния воздействия продуктов СВА на работоспособность аппара-
туры.
   Для качественного и количественного анализа загрязняющих соеди-
нений СВА, выделяющихся при дегазации различных космических ма-
териалов и других источников, во время проведения испытаний на воз-
действие эксплуатационных условий, применяются следующие методы
[9,13]:
- масс-анализ остаточных газов СВА;
- инфракрасная спектроскопия продуктов СВА;
- измерение ультрафиолетовой отражательной способности эталона;
- регистрация массы загрязняющей пленки с помощью высокочастотно-
го кварцевого резонатора (кварцевые микровесы);
- регистрация флуоресцентного рентгеновского излучения от пленки
загрязнений;
-хромато-масс-спектрометрия и термодесорбционная масс-
спектрометрия.
   При испытании КА на воздействие эксплуатационных условий мо-
жет оказаться необходимым применение всех перечисленных мето-
дов.Особо важно отметить эффективность применения высокочастотно-
го кварцевого резонатора ( кварцевые микровесы), благодаря их вы-
сокой чувствительности. Для кварцевых микровесов с основной резо-
нансной частотой кварцевого резонатора; f=16 Mгц, dm=df/В=2x10-7
df/кгц [9,13], где dm-приращение массы пленки на поверхности элек-
трода открытого кварцевого резонатора, df-изменение основной резо-
                                 172