Космическое материаловедение. Акишин А.И. - 57 стр.

   Определялось число квадратов N(), необходимых для покрытия
изображения разрядной структуры. Полученная зависимость имеет вид:
N()~-D .
   Фрактальная размерность разрядных структур, D, является угловым
коэффициентом графической зависимости lg N()~(lg). Измеренная
размерность D~1,6 хорошо укладывается в диапазон значений фрак-
тальной размерности, получаемой при экспериментальном исследова-
нии других фракталов.
   Фрактальный кластер – удобный объект для построения численных
моделей, позволяющих исследовать влияние условий роста на его фор-
му. Компьютерные модели составили основу представлений об этих
объектах (рис.9).
   Аналогичная картина формирования микроскопических фракталь-
ных кластеров имеет место при воздействии импульса лазера и возник-
новения светового пробоя в объеме прозрачных диэлектриков, в состав
которых входит углерод и кислород. В зоне светового пробоя за счет
диссоциации легко ионизуемых примесей в диэлектрике создается до-
полнительная концентрация свободных электронов, поглощающих ла-
зерное излучение. В результате возникают условия, приводящие к тер-
мохимической неустойчивости среды, связанные с процессом термиче-
ского разложения основного окисла стекла. Фрактальное состояние ве-
щества реализуется в виде фрактальных кластеров микронных размеров,
а также путем возникновения микроскопических образований типа ни-
тей, клубков в миллиметровом интервале.




Рис.9. Компьютерное представление фигур Лихтенберга в диэлектрике,
полученное с помощью компьютерного моделирования (5000 опера-
ций). Фрактальная размерность полученной структуры D~1,75

                                57