Космическое материаловедение. Акишин А.И. - 86 стр.

МэВ, наблюдается эффект внедренного нескомпенсированного элек-
трического заряда. Создаваемое этим зарядом электрическое поле в
объеме диэлектрика может расти до тех пор, пока не будет достигнута
напряженность электрического поля, соответствующая электрической
прочности материала.
   Делокализация внедренного в объем стекла заряда происходит за
счет собственной и радиационной проводимости диэлектрика. При
электрическом пробое внедренного в стекло заряда наблюдается рас-
трескивание стекол [14,15].

                        Радиолюминесценция стекол
   Изучение свечения, возникающего в стеклах различных типов под
действием ионизирующего излучения, представляет собой большой
интерес. Так, при использовании стеклянных линз в разнообразной оп-
тической аппаратуре, установленной на космических объектах, свече-
ние внешней линзы, вызванное космическим ионизирующим излучени-
ем, может служить помехой основному световому сигналу. Поэтому
большое значение приобретает изучение люминесцентных свойств сте-
кол, установление основных закономерностей выхода свечения в зави-
симости от их состава, измерение спектров, температурной зависимости
свечения и т.д. [3,16].
   Параметрами свечения оптических материалов являются яркость и
спектральный состав свечения. Получены основные результаты иссле-
дований зависимости этих параметров от условий облучения (вида,
энергии, интенсивности, длительности), температуры, состава оптиче-
ских стекол.
   Спектры люминесценции под действием заряженных частиц явля-
ются непрерывными и представляют распределение в области 380-520
нм с максимумами при длинах волн 410-460 нм.
   При измерениях электронной и протонной люминесценции (энергии
электронов и протонов сотни кэВ, что соответствует средним энергиям
частиц в радиационных поясах Земли) было получено, что для каждой
марки стекла яркость свечения линейно зависит от интенсивности па-
дающего ионизирующего излучения:
                            Be,,p=βe,,pje,pEe,p= βe,pJe,p,
   где Be,,p – яркость свечения образца при возбуждении электронами
или протонами, кд/м2; Je,p – интенсивность излучения, МэВ/см2.с, рав-
ная произведению плотности потока падающих частиц je,p, 1/см2.с, на их
энергию Ee,p, МэВ; βe,p – удельная яркость свечения, мккд.с/МэВ. При
этом интенсивность электронного излучения Je изменялась в пределах

                                 86