Микропроцессорные системы. Архитектура и проектирование. Анкудинов И.Г. - 93 стр.

UptoLike

Составители: 

a = a – 1.
Пусть входной набор А=(а
1
,...,a
n
) переходит в набор B=(b
1
,...,b
n
).
Сформируем переходный набор А/B=(а
1
/b
1
,...,a
n
/b
n
), где а
i
/ b
i
= a
i
, если а
i
= b
i
, а
i
/ b
i
= ½, если а
i
=
b
i
. Тогда если выходной сигнал комбинационного автомата
f(A)=f(B), a f(A/B)= ½, то имеет место статистический риск сбоя при переходе от
набора А к набору В.
Приводим алгоритм, выявляющий все троичные наборы сигналов,
дающие fна выходе схемы.
1. A:=(0,….,0).
2. Если A:=(1,….,1), то конец вычислений.
3. A:=А+½.
4. Если набор А не содержит координаты ½, то перейти к п.2.
5. Вычислить f(A).
6. Если f(A) ½ , то перейти к п.3.
7. Выдать значение А и перейти к п.2.
Выполнение п.3 приведенного выше алгоритма осуществляется следующей
процедурой:
1. i:=1.
2. S:=a
i
+½.
3. Если S<1+½, то a
i
:=S и конец работы процедуры.
4. a
i
:=0.
5. i:=1+1.
6. Если i<n, то перейти к п. 2.
7. Конец работы процедуры.
При программировании п.5 необходимо все элементы комбинационного
автомата разбить на уровни срабатывания: сначала вычисляются выходные
сигналы первого уровня, затем второго и т.д. до элементов последнего уровня.
Тестирование комбинационных автоматов. В исправном состоянии
комбинационный автомат реализует переключательную функцию f,
определенную на множестве входных воздействий X. Пусть Gмножество
возможных неисправностей автомата. Функцией неисправности gG автомата
называется функция f
g ,
выполненная автоматом при наличии неисправности g.
Функция неисправности f
g
отличается от функции f исправного устройства.
Подмножество входных воздействий T
К
X называется контролирующим
тестом автомата, если для каждой неисправности gG, для которой f
f
g
,
найдется воздействие eT
К
, для которого f(e)
f
g
(e).
Подмножество T
Д
X называется диагностическим тестом автомата,
если для каждой пары неисправностей g,kG, для которой f
g
f
k
, найдется