ВУЗ:
Составители:
Рубрика:
16
разрабатывать методики спектрального анализа реальных объектов (сплавы,
минералы, объекты окружающей среды и т.п.).
2. Содержание курса
Основные положения атомной спектроскопии. Классификация спек-
троскопии по свойствам излучения и свойствам атомных систем. Кванто-
вые законы, характеризующие процессы излучения и поглощения света атома-
ми. Энергетические уровни атомов и переходы между ними. Спектры погло-
щения, испускания и рассеяния разных элементов. Вероятности спонтан-
ных и вынужденных переходов. Время жизни возбужденных состояний.
Силы осцилляторов.
Условия возникновения спектров. Спектральные линии и их характеристи-
ки. Ширина спектральных линий. Интенсивность спектральных линий. Связь
между концентрацией определяемого элемента и относительной ин-
тенсивностью линии. Уравнение Шейбе — Ломакина. Факторы, влияющие на
интенсивность линии: электрические параметры возбуждения, продолжи-
тельность возбуждения. Влияние фазовых изменений в пробе на интенсив-
ность линии. Источники систематических погрешностей при измерении анали-
тического сигнала (влияние постороннего излучения и абсорбции) на интен-
сивность линии: фоновое излучение, совпадение линий, излучение от посто-
ронних примесей, самопоглощение. Выбор внутреннего стандарта, стан-
дартных образцов и аналитических пар линий в ходе спектрального анализа.
Источники возбуждения спектров, общие требования к ним. Типы источ-
ников. Правила безопасной эксплуатации источников.
Принципиальная схема и основные характеристики щелевых спектраль-
ных приборов. Основные характеристики диспергирующих систем (призма,
дифракционная решетка). Способы регистрации спектров. Типы фото-
электрических приемников излучения. Фотографическая эмульсия как прием-
разрабатывать методики спектрального анализа реальных объектов (сплавы, минералы, объекты окружающей среды и т.п.). 2. Содержание курса Основные положения атомной спектроскопии. Классификация спек- троскопии по свойствам излучения и свойствам атомных систем. Кванто- вые законы, характеризующие процессы излучения и поглощения света атома- ми. Энергетические уровни атомов и переходы между ними. Спектры погло- щения, испускания и рассеяния разных элементов. Вероятности спонтан- ных и вынужденных переходов. Время жизни возбужденных состояний. Силы осцилляторов. Условия возникновения спектров. Спектральные линии и их характеристи- ки. Ширина спектральных линий. Интенсивность спектральных линий. Связь между концентрацией определяемого элемента и относительной ин- тенсивностью линии. Уравнение Шейбе — Ломакина. Факторы, влияющие на интенсивность линии: электрические параметры возбуждения, продолжи- тельность возбуждения. Влияние фазовых изменений в пробе на интенсив- ность линии. Источники систематических погрешностей при измерении анали- тического сигнала (влияние постороннего излучения и абсорбции) на интен- сивность линии: фоновое излучение, совпадение линий, излучение от посто- ронних примесей, самопоглощение. Выбор внутреннего стандарта, стан- дартных образцов и аналитических пар линий в ходе спектрального анализа. Источники возбуждения спектров, общие требования к ним. Типы источ- ников. Правила безопасной эксплуатации источников. Принципиальная схема и основные характеристики щелевых спектраль- ных приборов. Основные характеристики диспергирующих систем (призма, дифракционная решетка). Способы регистрации спектров. Типы фото- электрических приемников излучения. Фотографическая эмульсия как прием- 16
Страницы
- « первая
- ‹ предыдущая
- …
- 14
- 15
- 16
- 17
- 18
- …
- следующая ›
- последняя »