ВУЗ:
Составители:
Рубрика:
16
разрабатывать методики спектрального анализа реальных объектов (сплавы,
минералы, объекты окружающей среды и т.п.).
2. Содержание курса
Основные положения атомной спектроскопии. Классификация спек-
троскопии по свойствам излучения и свойствам атомных систем. Кванто-
вые законы, характеризующие процессы излучения и поглощения света атома-
ми. Энергетические уровни атомов и переходы между ними. Спектры погло-
щения, испускания и рассеяния разных элементов. Вероятности спонтан-
ных и вынужденных переходов. Время жизни возбужденных состояний.
Силы осцилляторов.
Условия возникновения спектров. Спектральные линии и их характеристи-
ки. Ширина спектральных линий. Интенсивность спектральных линий. Связь
между концентрацией определяемого элемента и относительной ин-
тенсивностью линии. Уравнение Шейбе — Ломакина. Факторы, влияющие на
интенсивность линии: электрические параметры возбуждения, продолжи-
тельность возбуждения. Влияние фазовых изменений в пробе на интенсив-
ность линии. Источники систематических погрешностей при измерении анали-
тического сигнала (влияние постороннего излучения и абсорбции) на интен-
сивность линии: фоновое излучение, совпадение линий, излучение от посто-
ронних примесей, самопоглощение. Выбор внутреннего стандарта, стан-
дартных образцов и аналитических пар линий в ходе спектрального анализа.
Источники возбуждения спектров, общие требования к ним. Типы источ-
ников. Правила безопасной эксплуатации источников.
Принципиальная схема и основные характеристики щелевых спектраль-
ных приборов. Основные характеристики диспергирующих систем (призма,
дифракционная решетка). Способы регистрации спектров. Типы фото-
электрических приемников излучения. Фотографическая эмульсия как прием-
разрабатывать методики спектрального анализа реальных объектов (сплавы,
минералы, объекты окружающей среды и т.п.).
2. Содержание курса
Основные положения атомной спектроскопии. Классификация спек-
троскопии по свойствам излучения и свойствам атомных систем. Кванто-
вые законы, характеризующие процессы излучения и поглощения света атома-
ми. Энергетические уровни атомов и переходы между ними. Спектры погло-
щения, испускания и рассеяния разных элементов. Вероятности спонтан-
ных и вынужденных переходов. Время жизни возбужденных состояний.
Силы осцилляторов.
Условия возникновения спектров. Спектральные линии и их характеристи-
ки. Ширина спектральных линий. Интенсивность спектральных линий. Связь
между концентрацией определяемого элемента и относительной ин-
тенсивностью линии. Уравнение Шейбе — Ломакина. Факторы, влияющие на
интенсивность линии: электрические параметры возбуждения, продолжи-
тельность возбуждения. Влияние фазовых изменений в пробе на интенсив-
ность линии. Источники систематических погрешностей при измерении анали-
тического сигнала (влияние постороннего излучения и абсорбции) на интен-
сивность линии: фоновое излучение, совпадение линий, излучение от посто-
ронних примесей, самопоглощение. Выбор внутреннего стандарта, стан-
дартных образцов и аналитических пар линий в ходе спектрального анализа.
Источники возбуждения спектров, общие требования к ним. Типы источ-
ников. Правила безопасной эксплуатации источников.
Принципиальная схема и основные характеристики щелевых спектраль-
ных приборов. Основные характеристики диспергирующих систем (призма,
дифракционная решетка). Способы регистрации спектров. Типы фото-
электрических приемников излучения. Фотографическая эмульсия как прием-
16
Страницы
- « первая
- ‹ предыдущая
- …
- 14
- 15
- 16
- 17
- 18
- …
- следующая ›
- последняя »
