Физическое материаловедение светодиодных наноматериалов. Артемьев Д.М - 8 стр.

UptoLike

7
Рис. 1 Параметрическая геометрия расчетной модели подложки GaN-на-
сапфире
На Рис. 2 а показана зависимость степени релаксации
нормированных осредненных гидростатических напряжений для
некоторых из рассмотренных геометрических конфигураций. На Рис.2 б
показаны распределения нормированных гидростатических напряжений в
осевом сечении наноколонок для следующих геометрических
конфигураций:
 мкм,
 и 0.7. Видно, что наибольшая
релаксация напряжений наблюдается внутри наноколонок.
а
б
Рис. 2 Результаты расчетов: а зависимость степени релаксации
нормированных осредненных гидростатических напряжений; б
распределения нормированных гидростатических напряжений в осевом
сечении наноколонок при:
 мкм,
 и 0.7