Проектирование СВЧ-устройств с помощью Microwave Office. Аверина Л.И - 30 стр.

                                          30
заземлена. Н ап ряж ение мо ж ет такж е измеряться на п о ртах схем ы . В хо дны е
п о рты со сто ятиз идеально го исто чника нап ряж ения, вклю ченно го п о следо ва-
тельно с им п едансо м исто чника. К о г   да нап ряж ение измеряется в п о рте генера-
то ра, о но б удетизмеряться на заж имах ко мп лексно го со п ро тивления, ко то ро е
сто итп о следо вательно с идеальны м исто чнико м нап ряж ения. Д ля п о рто в на-
грузки измеряется нап ряж ение нап о лно м со п ро тивлении наг     рузки.
Ам пе  р ме т р ы п о мещ аю тся в схем у, что б ы указать то к, ко то ры й нео б хо димо
измерить. А мп ерметр до лж ен б ы ть п о мещ ён п о следо вательно с элементо м, че-
резко торы й нео б хо димо рассчитатьто к. П о ло ж ительно е нап равление измеряе-
мо го то касо вп адаетсо стрелко й, указанно й насим во ле ам п ерметра. Т о к мо ж ет
измеряться такж е в п о ртах схем ы . П о ло ж ительны й то к о п ределен как то к, вте-
каю щ ий вп о рт.
И зм е р и тели м ощ н ост и п о мещ аю тся в схему для измерения мо щ но сти, п ри
это м о ни измеряю ти нап ряж ение, и то к. П уть то ка измерителя мо щ но сти до л-
ж ен б ы ть нап равлен п о следо вательно с элементо м, в ко то ро м измеряется мо щ -
но сть. Н ап ряж ение измеряется меж ду клеммо й амп ерметра и о триц ательно й
клем мо й измерителя мо щ но сти. М о щ но сть мо ж еттакж е измеряться в п о ртах
схем ы . П о ло ж ительны й то к о п ределён как то к, втекаю щ ий вп о рт.
        К нелинейны м характеристикам о тно сятся следую щ ие классы измеряе-
мы х характеристик MeasType: характеристики нелиней но г             о то ка (Nonlinear
Current), характеристики нелинейно го нап ряж ения (Nonlinear Voltage), нели-
ней ны е характеристики п о мо щ но сти (Nonlinear Power), б о льш есигнальны е не-
линей ны е характеристики (Nonlinear Parameters), ш умо вы е нелиней ны е
характеристики (Nonlinear Noise).

                  6.3 Х ар ак т е
                                р и ст и к и н е
                                               ли н е
                                                    йн ого т ок а

IVCurve – во льт-амп ерны е характеристики активны х элементо в. Д ля измере-
ния этих характеристик всхем удо лж ен б ы ть вставлен элементIVCURVE (или
IVCURVEI) из п ап ки MeasDevice-IV. Э то тэлементисп о льзуется то чно так ж е,
как реально е измерительно е устро йство для сканиро вания нап ряж ения и изме-
рения во льт-ам п ерны х характеристик. О н имеетдве клемм ы : о дна для свип и-
руемо г о нап ряж ения, а друг    ая – для нап ряж ения (или то ка) изменяю щ егося
ступ енчато . Э то измерение уп равляется п араметрами настро йки, связанны м и с
этим элементо м. В результате расчёта п о лучаем во льт-амп ерны е характеристи-
ки п о п о сто янно му то ку. Э то тг рафик мо ж етб ы ть вы веден то лько на п рямо -
угольную системуко о рдинат.
IVDelta – эта характеристика исп о льзуется для расчёта разниц ы меж дудвумя
во льт-ам п ерны м и характеристикам и: измеренно й и п о лученно й в результате
мо делиро вания. Э та разниц а рассчиты вается как функц ия п араметра изменяе-
мо го нап ряж ения. Д ля каж до й величины сканирую щ его нап ряж ения рассчиты -
вается величина различия меж ду то ками на каж до й величине скачко о б разно
изменяемо го нап ряж ения. Э то даёт о б щ ую о ш иб ку меж ду двум я во льт-
амп ерны м и характеристиками как ц елевую функц ию во время о п тим изац ии.