Филатов Д.О.

UptoLike

Учебно-методические материалы автора

Исследование поверхности твердых тел методом сканирующей туннельной микроскопии (СТМ). Филатов Д.О
Просмотреть (PDF)
Филатов Д.О., Круглов А.В.
Филатов Д.О., Круглов А.В. Исследование поверхности твердых тел методом сканирующей туннельной микроскопии (СТМ). Описание лабораторной работы. - Нижний Новгород: НОЦ СЗМ Нижегородского государственного университета, 2001. - 22 с.
Исследование оптических свойств поверхности твердых тел методом ближнепольной сканирующей оптической микроскопии (БСОМ). Филатов Д.О
Просмотреть (PDF)
Филатов Д.О., Круглов А.В., Левичев В.В.
Исследование топографии поверхностных твердых тел методом атомно-силовой микроскопии в неконтактном режиме. Филатов Д.О
Просмотреть (PDF)
Филатов Д.О., Круглов А.В., Гущина Ю.Ю.
Филатов Д.О., Круглов А.В., Гущина Ю.Ю. Исследование топографии поверхностных твердых тел методом атомно-силовой микроскопии в неконтактном режиме: Описание лабораторной работы. - Нижний Новгород: ННГУ им. Н.И. Лобачевского, 2003. - 23 с.
Исследование инфракрасных фоторезисторов на внутризонных переходах в квантовых ямах InGaAs/GaAs. Горшков А.П
Просмотреть (PDF)
Горшков А.П., Карпович И.А., Филатов Д.О.
Горшков А.П., Карпович И.А., Филатов Д.О. Исследование инфракрасных фоторезисторов на внутризонных переходах в квантовых ямах InGaAs/GaAs: Описание лабораторной работы. - Нижний Новгород: ННГУ им. Н.И. Лобачевского, 2006. - 18 с.
Физика твердотельных наноструктур: Комплекс лабораторных работ. Филатов Д.О.
Просмотреть (PDF)
Филатов Д.О.
Комплекс лабораторных работ "Физика твердотельных наноструктур" / Сост. Д.О. Филатов. - Н.Новгород: ННГУ, 2010. - 63 с.
Фотоэлектрические свойства наноструктур GeSi/Si. Филатов Д.О
Просмотреть (PDF)
Филатов Д.О., Исаков М.А., Круглова М.В.
Филатов Д.О., Исаков М.А., Круглова М.В. Фотоэлектрические свойства наноструктур GeSi/Si: Учебное пособие. - Н.Новгород: ННГУ, 2010. - 118 с.