Николичев Д.Е.

UptoLike

Учебно-методические материалы автора

Определение концентрации Ge в эпитаксиальных пленках SixGe1-x/Si методом Оже-спектроскопии. Максимов Г.А
Просмотреть (PDF)
Максимов Г.А., Николичев Д.Е., Канышина М.В.
Максимов Г.А., Николичев Д.Е., Канышина М.В. Определение концентрации Ge в эпитаксиальных пленках SixGe1-x/Si методом Оже-спектроскопии: Описание лабораторной работы. - Нижний Новгород: ННГУ им. Н.И. Лобачевского, 2002. - 40 с.
Локальная диагностика состава полупроводниковых наносистем методом сканирующей оже-микроскопии". Николичев Д.Е
Просмотреть (PDF)
Николичев Д.Е., Боряков А.В.
Николичев Д.Е., Боряков А.В. Локальная диагностика состава полупроводниковых наносистем методом сканирующей оже-микроскопии": Учебно-методическое пособие. - Нижний Новгород: Изд-во Нижегородского госуниверситета, 2011. - 110 с.