Сварочные процессы в электронном машиностроении. Бадьянов Б.Н - 257 стр.

UptoLike

ВУЗ: 

УлГТУ | Ульяновск

Составители: 

Рубрика: 

256
контролируемых объектов, чем монокулярное. Кроме того, растет
информативность изображения, устраняются ошибки наблюдения пересечений
на различных уровнях, улучшается различие плоскостных и объемных
дефектов. В промышленности широко используется микроскоп МБС-9.
Применяемые для контроля качества соединений бинокулярные
микроскопы имеют существенный недостаток: оператор, работающий
длительное время с микроскопом, быстро утомляется, вследствие чего качество
выполнения операции
снижается. Поэтому для облегчения труда операторов и
повышения производительности труда целесообразно использовать другие
оптические приборы. В этом отношении весьма эффективны приборы, дающие
возможность вести наблюдения на проекционном экране, где контролируемое
изделие изображается в увеличенном масштабе. Однако небольшая яркость
изображений и уменьшение разрешающей способности в этих приборах по
сравнению с бинокулярными
микроскопами ограничивают их применение для
контроля качества соединений.
Более совершенными устройствами являются телевизионные проекторы.
Возможность усиления яркости и контраста изображений, сравнительно малые
световые нагрузки на изделие делают перспективным использование
телевизионных проекторов для контроля соединений изделий электронной
техники. В промышленности используются два типа телевизионных
проекторов: КИП-1 установка контроля печатных плат и УМК
-1 – установка
контроля микросхем.
Для контроля изделий малых размеров используют растровые электронные
микроскопы, позволяющие получать увеличения в десятки и сотни тысяч раз
при большой глубине резкости.
Контроль соединений с использованием рентгеновского излучения.
Рентгеновский контроль используется для выявления внутренних дефектов
соединений. Этот метод основан на способности рентгеновских лучей
проходить сквозь контролируемое изделие (
рис. 155, а). При этом часть энергии
излучения поглощается в контролируемом объекте. Количество поглощенной

Страницы