Составители:
Рубрика:
22
При наличии кристаллографической текстуры продольная магнито-
стрикция определяется по выражению (3.1) и может менять не только ве-
личину, но и знак.
Магнитострикция в любом произвольном направлении от-
носительно направления намагниченности насыщения (не продольная
магнитострикция) определяется выражением
)
3
1
(cos
2
3
2
−=
ϕλλ
s
(3.3)
где λ
s
- продольная магнитострикция насыщения по уравнению (3.1) или
(3.2);
ϕ - угол между вектором намагниченности насыщения и направлени-
ем магнитострикционной деформации λ.
Поскольку магнитострикционная деформация очень мала, экспери-
ментальные методы должны обеспечивать высокую точность измерения
малых изменений размеров. Наиболее часто встречающиеся методы: оп-
тико-механический, интерферометрический, тензометрический.
Оптико-механический метод. Испытуемый образец в виде прово-
локи или стержня помещается в намагничивающую катушку - соленоид.
При включении магнитного поля, в зависимости от знака магнитострик-
ции, образец удлиняется или укорачивается, что передается через меха-
ническую систему рычагов на зеркальце, которое поворачивается. По уг-
лу отклонения светового луча, падающего на зеркальце, можно измерить
величину
магнитострикции.
Интерферометрический метод. Узкий пучок света, идущий от мо-
нохроматического источника, делится полупрозрачным зеркалом на два
равных полупучка. Одна часть пучка, отразившись от неподвижных зер-
кал, направляется в окуляр. Другая часть, отразившись от подвижного
зеркала, закрепленного на испытуемом образце, также попадает в окуляр.
В окуляре наблюдаются интерференционные линии благодаря наличию
некоторой разности хода
когерентных лучей, отраженных от подвижного
и неподвижного зеркал. При включении магнитного поля линейные раз-
меры образца изменяются и зеркальце, закрепленное на образце, смещает-
ся. Соответственно изменяется оптическая разность хода двух пучков све-
та. Интерференционные полосы при этом смещаются. Величину магнито-
стрикции рассчитывают по формуле
l
n
l
l
2
λ
=
∆
(3.4)
где l и ∆l - длина и изменение длины испытуемого образца, соответствен-
но;
λ - длина волны монохроматического источника света;
п -количество полос смещения.
Страницы
- « первая
- ‹ предыдущая
- …
- 20
- 21
- 22
- 23
- 24
- …
- следующая ›
- последняя »