Интегральные устройства РЭ. Белова И.В. - 105 стр.

UptoLike

ВУЗ: 

УлГТУ | Ульяновск

Составители: 

Рубрика: 

7 - α=HJO
3
[100]L[001]; 8 - TeO
2
O [001]S[110]; 9 - H
2
O; 10 -
СТФ-2; 11 - Тф-10; 12 - SiO
2
кристаллический [001] L [100]; 13 - SiO
2
– кри-
сталлический
⊥L[001]; 14 - LiNbO
3
⊥S[001];
15 - SiO
2
плавленый – L; 16 - Al
2
O
3
||L[100]; 17 - SiO
2
плавленый, произ-
вольная S;
18 - LiNbO
3
[011] L [100]; 19 - NaBi {(MoO
4
)
2
[001]L[001]
ϑ
λ
θ
n
f
Б
2
sin
0
= , (5.14)
где
f
- частота;
ϑ
- скорость звуковых волн.
б) сканирование лучом в пространстве с монотонным изменением на-
правления луча при монотонном изменении акустической частоты. Зависи-
мость изменения угла распространения оптического звука
Б
θ
Δ от частоты звука
f
Δ
получим из (5.10)
Б
Б
n
f
θϑ
λ
θ
cos2
0
Δ
=Δ , (5.15)
В режиме дефлектора работают и анализаторы спектра частот, в которых
информация о спектре акустических частот получается в виде углового распре-
деления оптической интенсивности.
Важнейшей характеристикой дефлектора является его
разрешающая
способность N
, которая определяется как число отдельных разрешимых поло-
жений луча в интервале углов отклонения
()
max
f
Б
θ
Δ .

Страницы