ВУЗ:
Составители:
Рубрика:
293
В кинетическом подходе энергетической характеристикой или мерой пластич-
ности материалов принято считать энергию активации пластической деформации
(см. гл. 3).
1.18. Фрактография износа
При изучении рельефа изнашиваемых поверхностей и структурных характе-
ристик поверхностного слоя материалов широко применяют оптическую и элек-
тронную микроскопию.
Оптическая микроскопия чаще всего применяется для получения картины
размеров и распределения структурных составляющих материала по фотографиям
полированных и слегка протравленных участков поверхностей деталей или об-
разцов материала (шлифов).
Зная увеличение на фотографии, легко измерить размеры зерен и их состав-
ляющих. В лучших оптических микроскопах увеличение достигает 1000. Приме-
ры оптических и электронных фотографий изношенных поверхностей приведены
на рис. 4.8.
Электронные микроскопы позволяют получить гораздо большее, чем у опти-
ческих, увеличение - до 500 000 раз и больше.
На электронных микроскопах возможны съемки «на просвет», если изучается
структура и состояние тонких пленок, и при отражении. В режиме отражения ра-
ботают растровые электронные микроскопы (РЭМ).
Метод РЭМ широко применяют для наблюдения топографии поверхностей,
например, если поверхность содержит островки пленок вторичных структур, то
после оттенения реплик под заданным углом по фотографии можно определить
толщину этих пленок.
Широкий круг методов структурного анализа основан на дифракции рентге-
новских лучей, электронов и нейтронов, которые могут быть направлены на изу-
чаемый объект.
При рентгеноструктурном анализе используют лучи с длинами волн в ин-
тервале 0,05 0,25 нм, соизмеримыми с межатомными расстояниями в твердых
телах и жидкостях, что позволяет им проходить сквозь непрозрачные для свето-
вых лучей объекты. Проходя сквозь твердое вещество, рентгеновские лучи испы-
тывают дифракцию на атомах кристаллической решетки. Условие максимумов
описывается формулой Вульфа-Брегга:
sinθ 2dnλ
, (4.14)
где d - расстояние между соседними параллельными атомными плоскостями кри-
сталла; - угол скольжения; - длина волны рентгеновского излучения; n - поря-
док максимума.
Дифракционные картины получают на рентгенограммах при фотографическом
методе регистрации в камерах Дебая или на дифрактограммах с автоматической
регистрацией счетчиками интенсивности рассеяния рентгеновских лучей. Ди-
фракционная картина в целом позволяет выявить и оценить качественно и коли-
Страницы
- « первая
- ‹ предыдущая
- …
- 100
- 101
- 102
- 103
- 104
- …
- следующая ›
- последняя »
