ВУЗ:
Составители:
Рубрика:
203
зоне масштаб увеличения по осям Х и Y. Возможно увеличение по оси Y до
100000 раз.
В последние годы разработаны методы получения профилограмм на растровом,
электронном и сканирующем (туннельном) микроскопах. Разрешение в этом слу-
чае достигает нанометров. Удается регистрировать шероховатость молекулярных
размеров (субмикрошероховатость), а также микродефекты кристаллической
структуры.
Рассмотрим основные характеристики микрогеометрии более подробно, в со-
ответствии с действующим в России ГОСТ 2789-73.
Установленные этим стандартом характеристики шероховатостей иллюстриру-
ет рис. 1.3. Основные из них высотные: R
a
, R
z
и R
max
и шаг микронеровностей.
L
B B
y
R
p
H
max
h
i
a
D l
i
y
i
D t
p
A A
r x t
m
R
max
H
min
C C 1
а б
t
p
1
Р и с. 1.3. Характеристики шероховатостей
а) - характеристики шероховатостей; б) - опорная кривая.
Наиболее часто в технике применяют характеристику R
a
- среднее арифметиче-
ское абсолютных значений отклонений профиля шероховатостей от средней ли-
нии в пределах базовой длины L:
n
1i
i
L
0
a
.y
n
1
dxxy
L
1
R
(1.1.)
В формуле (1.1.) L - базовая длина, в пределах которой находится достаточно
представительное число микронеровностей с точки зрения статистики; У
i
- рас-
стояние точки профиля от средней линии (см. рис. 1.3, а), n - число точек профи-
ля, в которых измерено У
i
. Положение средней линии АА находится из соображе-
ния о том, что она делит площадь профиля пополам
)0ydx(
L
0
. Профиль заклю-
чен между линиями выступов ВВ и впадин СС, которые проводятся через верши-
ны самых высоких выступов и самые низкие точки впадин.
Параметр R
z
- характеризует среднее расстояние между пятью высшими вер-
шинами выступов и пятью низшими точками впадин:
5
1
imin
5
1
imaxz
HH
5
1
R
. (1.2)
Страницы
- « первая
- ‹ предыдущая
- …
- 10
- 11
- 12
- 13
- 14
- …
- следующая ›
- последняя »
