Нанотехнологии в физике. Изучение структурных типов углеродных нанотрубок. Битюцкая Л.А - 8 стр.

UptoLike

ВУЗ: 

ВГУ | Воронеж

Составители: 

Рубрика: 

8
Рис. 3. ТЭМ -изображение углеродных нанотрубок, полученных CVD-методом.
Рис. 4. ТЭМ -изображение многослойной углеродной нанотрубки
(9 слоев , внутренний диаметр трубки 10 нм).
Электронная дифракция дополняет результаты ТЭМ -микроскопии и
позволяет получить информацию о структуре нанотрубок: межслоевое
расстояние, количество слоев , распределение слоев . Однако существуют
определенные сложности в интерпретации дифрактограмм, особенно в случае
многослойных нанотрубок.
Сканирующая зондовая микроскопия (СЗМ ) позволяет получать атомно-
разрешенные СТМ (сканирующая туннельная микроскопия) и АСМ (атомно-
силовая микроскопия) изображения (рис. 5). 
                                     8




Рис. 3. Т Э М -изобра ж ение угл ерод ных на но трубо к, пол ученных CVD-метод ом.




        Рис. 4. Т Э М -изобра ж ение многосл ойной угл еро д ной на нотрубки
                    (9 сл оев , в нутренний д иа метр трубки 10 нм).

     Элект ро нна я д иф ра кция д опол няет резул ьта ты Т Э М -микроскопии и
позв ол яет пол учить информа цию о структуре на но трубо к: меж сл оев ое
ра ссто яние, ко л ичеств о сл оев , ра спред ел ение сл оев . Од на ко сущ еств ую т
о пред ел енные сл ож но сти в интерпрета ции д ифра ктогра мм, особенно в сл уча е
многосл ойных на нотрубок.
     Ска нирующа я зо нд о ва я микро ско пия (СЗМ ) по зв ол яет пол уча ть а томно -
ра зреш енные С Т М (ска нирую щ а я туннел ьна я микроскопия) и А С М (а томно -
сил ов а я микроскопия) изобра ж ения (рис. 5).

Страницы