Элементы и узлы информационных и управляющих систем (Основы теории и синтеза). Булатов В.Н. - 86 стр.

подмножество, все состояния которого характеризуются дефектом одного
элемента независимо от состояния остальных.
  После остановки алгоритма выявленный отказавший элемент заменяют
исправным, затем проверка повторяется. При этом длительность процесса
диагностирования возрастает, однако ИЕА значительно сокращается.




  а — при поэлементной проверке; б — при выявлении каждого состояния


         Рисунок 6.4 – Графы диагностирования резистивной цепи


  Пример 2 – Организуем процесс диагностирования цепи, показанной на
рисунке 6.2, следующим образом. Измерим сопротивление резистора R1,
затем, в случае его исправности, — R2 и R3. При обнаружении
неисправности одного из резисторов останавливаем алгоритм (рисунок 6.5),
заменяем резистор исправным и повторяем проверку. Максимальное число
циклов диагностирования z




     Рисунок 6.5 - Граф алгоритма    Рисунок 6.6 - Граф алгоритма
     с восстановлением              с минимальной ИЕА