Наноразмерные структуры: классификация, формирование и исследование. Булыгина Е.В - 39 стр.

1.5.   Метод I(v) спектроскопии      Предполагает одновременное получение обычного
       (or Current Imaging Tunneling изображения рельефа при фиксированных значениях
       Spectroscopy, CITS)           тока Io и напряжения смещения Vo.
2. Контактная сканирующая атомно-силовая микроскопия (КАСМ)
2.1. Метод постоянной силы           Измерение рельефа поверхности при сканировании
       (Constant Force mode)         образца зондом, находимся с ним в непосредственном
                                     контакте, при этом система обратной связи
                                     поддерживает постоянной силу прижима зонда к
                                     поверхности
2.2. Метод постоянной высоты         Измерение рельефа поверхности при сканировании образца
       (Constant Height mode)        зондом, находящимся с ним в непосредственном контакте, при
                                       этом система обратной связи разомкнута и z-координата сканера
                                       поддерживается постоянной.
2.3.   Контактный                метод Отображение сигнала рассогласования на входе
       рассогласования                  системы обратной связи в процессе реализации Метода
       (Contact Error mode)             постоянной    силы,    обеспечивает    подчеркивание
                                        малоразмерных деталей рельефа поверхности
2.4. Микроскопия          латеральных Отображение распределения локальной силы трения по
       сил                              поверхности образца
       (Lateral Force Microscopy)
2.5. Метод модуляции силы               Отображение распределения локальной упругости по
       (Force Modulation mode)          поверхности образца
2.6. Отображение силы растекания Отображение распределения локальной проводимости
       Spreading Resistance Imaging)    образца
2.7. Контактная                         Отображение        распределения      электрического
       электростатическая силовая потенциала по поверхности образца, характеризуется
       мокроскопия (ЭСМ)                повышенным разрешением
       (Contact EFM)
2.8. Атомно-силовая акустическая Отображение распределения локальной упругости по
       микроскопия (АСАМ)               поверхности образца
       (Atomic-force           acoustic
       microscopy, AFAM)
2.9. АСАМ                 резонансная Отображение распределения локальной упругости по
       спектоскопия                     поверхности образца с возможностью получения
       (AFAM                Resonance количественных        данных      по     распределению
       Spectroscopy)                    приведенного модуля Юнга
3. Прерывисто-Контактная сканирующая силовая микроскопия
3.1. Прерывисто-контактный              Измерение рельефа поверхности с использованием
       метод                            колеблющегося с резонансной частотой зонда. В
                                        процессе сканирования острие зонда в нижней точке
                                        колебаний слегка касается поверхности образца
3.2. Прерывисто-контактный              Отображение сигнала рассогласования на входе
       метод рассогласования            системы обратной связи в процессе реализации
       (Semicontact Error mode)         прерывисто-контактного       метода,     обеспечивает
                                        подчеркивание малоразмерных деталей рельефа
                                        поверхности
3.3. Метод отображения фазы             Отображение особенностей рельефа, поверхностной
       (Phase Imaging mode)             адгезии и вязкоупругости, определяющих фазовую
                                        задержку колебаний зонда
4. Бесконтактная атомно-силовая микроскопия (Non Contact AFM)




                                                                                                  4