Начала химического эксперимента. Чаркин Д.О - 78 стр.

UptoLike

Рубрика: 

78
Обработка данных с целью получения параметров
кристаллической решетки. Для получения этих данных из рентгенограммы,
снятой на дифрактометре (формат RAW), исходный файл обрабатывают с
помощью программы Pattern fitting пакета WinXpoW. С помощью команды
Find peaks находят относительные положения наиболее ярких пиков. Иногда
некоторые, относительно слабые пики оказываются неучтенными
программой. С помощью команды Edit peaks (пиктограмма "⏐⏐⏐") их вводят
вручную
. Подводят курсор максимально близко к вершине неучтенного пика
и дважды ударяют по левой кнопке мыши. После того, как все пики введены,
приступают к обработке рентгенограммы. Следует отметить, что при
высоком фоне программа может работать не очень стабильно, поэтому
сначала 5 – 7 раз нажимают на пиктограмму "N1" (1 цикл расчета по МНК) и
только после
этогопиктограмму "N" (расчет по МНК до сходимости).
Часть слабых пиков программа может исключить из расчета (тонкие красные
линии). Их можно попробовать включить в расчет повторно, вводя по
одному. После того, как достигнут согласованный результат, командой Save
сохраняют список пиков, выбирая формат PKS или PFT. Если программа
выдает предупреждение о наличии отрицательных интенсивностей (в нашем
случаеартефактов), их следует удалить из списка пиков вручную (команда
Edit peaklist). Список распечатывают и вводят в программу POWDER (в этом
случае в меню Set geometry выбирают вариант Diffractometer и вводят
величины углов дифракции 2ϑ, выбрав соответствующее излучение
антикатода в меню "длина волны", пиктограмма "λ").
После того, как все данные введены, файл промера сохраняют,
соответствующее ему
окно закрывают и открывают снова, выбирая
программу для проведения МНК (пиктограмма "[1,0,0]"). В рамках данного
практикума проводится только индицирование методом аналогий. Поэтому
на запрос программы о типе кристаллической решетки следует ввести те же
данные, что и для вещества, по аналогии с которым предполагается
обрабатывать полученные данные. Если, например, планируется обработать
                                      78
     Обработка      данных     с       целью       получения    параметров
кристаллической решетки. Для получения этих данных из рентгенограммы,
снятой на дифрактометре (формат RAW), исходный файл обрабатывают с
помощью программы Pattern fitting пакета WinXpoW. С помощью команды
Find peaks находят относительные положения наиболее ярких пиков. Иногда
некоторые,   относительно    слабые        пики   оказываются   неучтенными
программой. С помощью команды Edit peaks (пиктограмма "⏐⏐⏐") их вводят
вручную. Подводят курсор максимально близко к вершине неучтенного пика
и дважды ударяют по левой кнопке мыши. После того, как все пики введены,
приступают к обработке рентгенограммы. Следует отметить, что при
высоком фоне программа может работать не очень стабильно, поэтому
сначала 5 – 7 раз нажимают на пиктограмму "N1" (1 цикл расчета по МНК) и
только после этого – пиктограмму "N" (расчет по МНК до сходимости).
Часть слабых пиков программа может исключить из расчета (тонкие красные
линии). Их можно попробовать включить в расчет повторно, вводя по
одному. После того, как достигнут согласованный результат, командой Save
сохраняют список пиков, выбирая формат PKS или PFT. Если программа
выдает предупреждение о наличии отрицательных интенсивностей (в нашем
случае – артефактов), их следует удалить из списка пиков вручную (команда
Edit peaklist). Список распечатывают и вводят в программу POWDER (в этом
случае в меню Set geometry выбирают вариант Diffractometer и вводят
величины углов дифракции 2ϑ, выбрав соответствующее излучение
антикатода в меню "длина волны", пиктограмма "λ").
     После того, как все данные введены, файл промера сохраняют,
соответствующее ему окно закрывают и открывают снова, выбирая
программу для проведения МНК (пиктограмма "[1,0,0]"). В рамках данного
практикума проводится только индицирование методом аналогий. Поэтому
на запрос программы о типе кристаллической решетки следует ввести те же
данные, что и для вещества, по аналогии с которым предполагается
обрабатывать полученные данные. Если, например, планируется обработать