ВУЗ:
Составители:
Рубрика:
micro Photonics и др. имеют паспортное разрешение в канале измерения
силы около 1 нН, а по перемещению < 0,1 нм. Это позволяет не только
визуализировать микротопографию поверхности, но и исследовать более
десятка механических характеристик материала в приповерхностных
слоях, покрытиях, пленках толщиной от единиц нм до нескольких мкм, т.е
перейти от двумерных к трехмерным исследованиям
материала.
Обработка
Р-h диаграмм, полученных при наноиндентировании,
дает возможность:
▪ Определить сопротивление упругопластическому локальному
деформированию в наноконтакте и осуществлять верификацию
имеющихся теорий микро- и наноконтактного взаимодействия;
▪ Определять число твердости
Н=Р/S при упругопластическом
контакте (здесь
Р – усилие внедрения, S − площадь отпечатка, связанная с
его глубиной
h через геометрию вершины индентора);
▪Измерять поглащенную в контактном взаимодействии энергию;
▪ Устанавливать упругопластические характеристики материалов, не
поддающихся пластическому деформированию в макроопытах вследствие
опережающего квазихрупкого разрушения (керамика, минеральные и
металлические стекла, карбиды, нитриды, бориды металлов и т.д.);
▪ Определять характеристики подвижности изолированных
дислокаций и их скоплений в кристаллических материалах;
▪
Определять коэффициент вязкости разрушения К
1с
по размерам
трещин вокруг отпечатка и величине силы вдавливания;
▪ Моделировать процессы изнашивания и усталости в
приповерхностных слоях путем многократного нагружения одной и той же
области нанесения наноцарапин;
▪ Оценивать пористость материала;
▪ Исследовать структуру многофазных материалов;
▪ Изучать фазовые переходы, индуцированные высоким давлением
под индентором;
▪ Определять модули упругости,
скорость звука и анизотропию
механических свойств;
▪ Определять толщину, степень адгезии и механические свойства
тонких слоев и покрытий;
▪ Исследовать зависимые от времени характеристики материала и
коэффициенты скоростной чувствительности механических свойств как на
стадии погружения, так и на стадии вязкоупругого восстановления
отпечатка после разгрузки;
▪ Оценивать величину и распределение внутренних напряжений
.
micro Photonics и др. имеют паспортное разрешение в канале измерения
силы около 1 нН, а по перемещению < 0,1 нм. Это позволяет не только
визуализировать микротопографию поверхности, но и исследовать более
десятка механических характеристик материала в приповерхностных
слоях, покрытиях, пленках толщиной от единиц нм до нескольких мкм, т.е
перейти от двумерных к трехмерным исследованиям материала.
Обработка Р-h диаграмм, полученных при наноиндентировании,
дает возможность:
▪ Определить сопротивление упругопластическому локальному
деформированию в наноконтакте и осуществлять верификацию
имеющихся теорий микро- и наноконтактного взаимодействия;
▪ Определять число твердости Н=Р/S при упругопластическом
контакте (здесь Р – усилие внедрения, S − площадь отпечатка, связанная с
его глубиной h через геометрию вершины индентора);
▪Измерять поглащенную в контактном взаимодействии энергию;
▪ Устанавливать упругопластические характеристики материалов, не
поддающихся пластическому деформированию в макроопытах вследствие
опережающего квазихрупкого разрушения (керамика, минеральные и
металлические стекла, карбиды, нитриды, бориды металлов и т.д.);
▪ Определять характеристики подвижности изолированных
дислокаций и их скоплений в кристаллических материалах;
▪ Определять коэффициент вязкости разрушения К1с по размерам
трещин вокруг отпечатка и величине силы вдавливания;
▪ Моделировать процессы изнашивания и усталости в
приповерхностных слоях путем многократного нагружения одной и той же
области нанесения наноцарапин;
▪ Оценивать пористость материала;
▪ Исследовать структуру многофазных материалов;
▪ Изучать фазовые переходы, индуцированные высоким давлением
под индентором;
▪ Определять модули упругости, скорость звука и анизотропию
механических свойств;
▪ Определять толщину, степень адгезии и механические свойства
тонких слоев и покрытий;
▪ Исследовать зависимые от времени характеристики материала и
коэффициенты скоростной чувствительности механических свойств как на
стадии погружения, так и на стадии вязкоупругого восстановления
отпечатка после разгрузки;
▪ Оценивать величину и распределение внутренних напряжений.
Страницы
- « первая
- ‹ предыдущая
- …
- 225
- 226
- 227
- 228
- 229
- …
- следующая ›
- последняя »
