Устройства интегральной электроники: Акустоэлектроника. Основы теории, расчета и проектирования. Дмитриев В.Ф. - 61 стр.

UptoLike

Составители: 

61
=
ω= ω ω
OC
OC
1
(,) ()exp[ ( )/ ],
N
gK k
k
Kz r jzzV
(3.36)
где r
gK
(ω) – коэффициент отражения от k'й канавки, приведенный к
ее центру; z
k
– координата центра k'й канавки, z –точка наблюде'
ния.
Достоинством выражения (3.36) является тот факт, что оно при'
годно для расчета коэффициента отражения ПАВ от ОС с изменяю'
щимся периодом и апертурой отражателей. Следует подчеркнуть, что
именно такие отражательные структуры используются в дисперси'
онных линиях задержки.
Вместе с тем соотношение (3.36) непригодно для расчета коэффи'
циента отражения от ОС, используемых в резонаторах и резонанс'
ных фильтрах. В этом случае важны многократные отражения ПАВ
внутри отражательной структуры.
Использование модели неоднородной линии передачи приводит к
следующему приближенному выражению для коэффициента отраже'
ния ПАВ от отражательной структуры, учитывающему многократ'
ные переотражения:
ωσω
ω=
σω+ δω σω
OC
OC
()tanh[() ]
() ,
() ()tanh[() ]
rN
R
jN
(3.37)
где r(ω) – коэффициент отражения от элемента ОС;
σω= ω δω
22
() () ()r
,
δω =πωω ω
00
() ( )/
– расстройка; ω
0
– центральная частота ОС.
В качестве примера на рис. 3.8 показаны зависимости модуля ко'
эффициента отражения R(ω) от относительной частоты. На рис. 3.9
показаны зависимости модуля коэффициента отражения на цент'
ральной частоте ОС
00
()RR
от количества отражающих элемен'
тов. Зависимости, изображенные на рис. 3.8 и 3.9, рассчитаны по
соотношению (3.37).
Недостатком соотношения (3.37) является тот факт, что оно при'
годно для расчета ОС с постоянным периодом и апертурой, т. е. об'
ласть его использования весьма ограничена.
Наклонное падение ПАВ. В случае наклонного падения ПАВ на
отражательную структуру анализ процесса отражения удобно прово'
дить с использованием векторных диаграмм (рис. 3.10). Как и в слу'
чае нормального падения ПАВ имеет место связь волновых векто'
ров: