Конструкторско-технологическое обеспечение эксплуатационной надежности авиационного радиоэлектронного оборудования. Дмитриевский Е.С. - 14 стр.

UptoLike

ВУЗ: 

СПб ГУАП | Санкт-Петербург

Составители: 

Рубрика: 

14
Существуют следующие основные резервы повышения производ-
ственных показателей надежности элементов:
ослабление интенсивности протекания в материалах физико-хи-
мических процессов, приводящих к изменению параметров элемен-
тов;
увеличение запасов прочности структуры элемента по всем видам
нагрузок;
создание равнопрочной конструкции во всех звеньях структуры;
применение новых конструктивных решений и новых принципов
создания элементов с большими потенциальными возможностями в от-
ношении повышения надежности;
отбраковка элементов со скрытыми производственными дефектами.
Наиболее перспективным способом повышения производственной
надежности является разработка и применение интегральных микро-
схем (ИМС) и функциональных приборов.
Элементы интегральных микросхем, аналогичные обычным радио-
деталям и приборам, выполнены и объединены внутри или на поверх-
ности общей подложки, электрически соединены между собой и заклю-
чены в общий корпус. В интегральной микроэлектронике сохраняется
основной принцип дискретной электроники, основанной на разработке
электрической схемы по законам теории цепей.
Помимо высокой надежности собственных элементов в интеграль-
ных микросхемах очень низкая интенсивность отказов связей между
элементами и, поскольку интенсивность отказов системы λ
Σ
формиру-
ется из двух составляющих – надежности элементов
i
λ
и надежности
их связей
j
λ
, снижение второй составляющей приводит к значитель-
ному эффекту в части повышения надежности систем
11
nk
ii j
i
ij
nk
∑
==
λ= λ+ λ
∑∑
,
где n – количество типов элементов i-го вида; k – количество типов свя-
зей между элементами; n
i
, k
j
– соответственно количество элементов и
связей данного типа.
Для целого ряда полупроводниковых ИМС связь между элементами
внутри полупроводника практически абсолютно надежная.
Анализ показывает, что в интегральном исполнении радиоэлектрон-
ные узлы имеют надежность на несколько порядков выше надежности

Страницы