Дифракция лазерного света на дифракционной решетке. Определение параметров различных дифракционных решеток. Ескин Н.И - 5 стр.

где собственно и локализована картина дифракции на экране наблюдения, есть

                                             (9)

      Общее    число     главных   максимумов      т.е.   число   ярких   пятен    в
дифракционной картине на экране наблюдения можно приблизительно оценить


как    отношение       угла         и   угла                  ,   определяющего


направление      на      первый    главный     максимум      решетки      (см.рис.6).
Цель работы.

      1.Изучение дифракции на структуре, изображенной на рис.1
(непрозрачный экран с прямоугольными отверстиями). 2.Изучение и проверка
соотношения между картиной, даваемой отдельным элементом решетки, и
картиной, даваемой всей решеткой. 3.Определение параметров исследуемой
решетки по дифракционной картине на экране наблюдения и при прямом
измерении. 4.Проверка основных соотношений (7) для различных решеток и
определение их основного параметра.
      Принадлежности. Полупроводниковый лазер с длиной волны 670 нм
(красный) и мощностью излучения 1 мВт, направляющая, набор рейтеров,
объект - решетка для подробного исследования, две голографические решетки,
линза, экран для наблюдения с магнитами для крепления бумаги, карандаш,
линейка.
      Методика проведения. На направляющей (рис.5) собирается схема опыта
рис.4 Первоначально изучается дифракционная картина исследуемой решетки.
Затем измеряется увеличенное линзой изображение этой решетки (рис.7).
Замеряются расстояния l, l1 , l2 . По дифракционной картине при заданной
геометрии опыта оцениваются основные параметры исследуемой решетки d, dI ,
N. Результаты сопоставляются с оценками этих же параметров при
исследовании изобретения решетки на экране решетки d, dI , N. По
дифракционной картине оценивается размер падающего на решетку луча лазера
d 0 и работающее число штрихов. Результаты сравниваются с прямым
измерением размера пятна лазера на экране и числом полос получаемым в
изображении решетки.
      После этих исследований для двух голографических решеток и
исследуемой решетки измеряются положения дифракционных максимумов и