Дислокационные механизмы разрушения двойникующихся материалов. Федоров В.А - 116 стр.

UptoLike

а) б)
Рис. 8.1. Гистограмма распределения зерен по диаметру (а):
Wотносительная частота присутствия зерна, dдиаметр зерна;
бобщий вид поверхности образца после травления
Рис. 8.2. Схема модернизированного маятникового копра БКМ-5
для испытаний образцов на растяжение:
1основание; 2устройство крепления образцов для деформации
растяжением; 3молот; 4шкала; 5контрольный указатель; 6рабочий указатель
8.2. КОЛИЧЕСТВЕННЫЕ ХАРАКТЕРИСТИКИ
СОПУТСТВУЮЩЕГО ДВОЙНИКОВАНИЯ СПЛАВА Fe + 3,25 % Si
Разрушение зерен поликристаллических образцов, вследствие их различной ориентировки по отно-
шению к оси растяжения [224, 225], можно рассматривать как всевозможные промежуточные состояния
между растяжением вдоль направлений [001] и [
110], что усложняет проведение аналитического расче-
та параметров разрушения. Поэтому для анализа разрушения поликристалла можно воспользоваться, как
модельными, результатами, полученными на монокристаллических образцах, деформируемых по двум пре-
дельным направлениям: [001] и [
110].
Характерной особенностью сопутствующего двойникования при динамическом растяжении моно-
кристаллических образцов вдоль направления [001] является образование двойников систем (112) и
(1 12) (винтовая ориентация) вдоль берега свободно движущейся трещины (см. гл. 5). Двойники других
возможных систем вдоль берега разрушения возникали главным образом в местах нестабильного роста
трещины (торможение, взаимодействие с предшествующими двойниками, с включениями, при выходе
на поверхность и т.д.).
Сопутствующее двойникование при растяжении вдоль [
110] проявляется только в области низких
температур. Особенность развития низкотемпературного разрушения заключалось в массовом образо-
вании вдоль его трассы двойников (112) и (
1 1
2) и микротрещин (001), ориентированных параллельно
оси растяжения. Среди (112) и (112) двойников выделялись "первичные", пронизывающие весь кри-
сталл и короткие – "вторичные", локализующиеся вдоль границ двойниковых прослоек. Число вторич-
ных двойников сильно зависит от температуры испытания.
4
5
6
3
2
1