Составители:
38
свет-сигнальной характеристики к среднеквадратичному значению
шума ПИ
ш
.
U
σ
Ситуация сильно осложняется, когда облученность на входном зрач-
ке ОС от фона превышает соответствующую облученность на входном
зрачке ОС от цели в 100–1000 раз.
Облученность от фона на входном зрачке ОС создает облучен-
ность в плоскости фокусировки ОС на поверхности ПИ через фор-
мулу (3.15), которая зависит от фокусного расстояния ОС F.
Кроме внешнего фона (в основном, от дневной Земли), присут-
ствует приборный (или аппаратурный) внутренний фон, так как при
неохлаждаемой ОС полость заднего отрезка ОС и входная оптичес-
кая часть криостатирующего устрой-
ства ПИ образуют "серую" полость
с температурой порядка 300 К, излу-
чающую на ПИ. Величина внутренне-
го фона также зависит от F, особенно
для ОС с большой выходной аперту-
рой (рис. 4.6).
Апертура А:
.
2
D
A
F
=
(4.10)
Телесный угол Ω , в котором поглощается фоновое излучение зад-
него отрезка ОС:
2
sin ,
Ω=π θ
(4.11)
где θ – половина угла обзора поверхности ПИ из любой точки в про-
странстве заднего отрезка ПИ.
Для широкоапертурных объективов даже в коротковолновом диапазо-
не до 3,0 мкм аппаратурный фон может превышать фон дневной Земли.
Типичные значения Р
пор
для ИК-приемника на геостационарной ор-
бите (около 40000 км), необходимые для обнаружения 1-й ступени старта
МБР Р
пор
= 5⋅10
–13
Вт/элемент при ψ ≥ 3 при облученности от фона днев-
ной Земли Е
ф
≈ 1⋅10
–6
Вт/см
2
и аппаратурного фона E
ф
≈ 1⋅10
–6
Вт/см
2
.
При площади элемента S = 30 × 30 мкм ≈ 1⋅10
–5
см
2
от суммарного фона
на ПИ попадает поток P
ф
≈ 2⋅10
–11
Вт/элемент.
OC
Рис. 4.6
D
lk
F
hν
hν
θ
Страницы
- « первая
- ‹ предыдущая
- …
- 36
- 37
- 38
- 39
- 40
- …
- следующая ›
- последняя »
