ВУЗ:
Составители:
Рубрика:
Введение
Проектирование электронных схем (или просто схемотехническое
проектирование) сводится к решению группы задач синтеза и задач ана-
лиза. При этом под структурным синтезом понимают создание
(интуитивное или формализованное) какого-то варианта схемы, не обяза-
тельно окончательного. В процессе проектирования синтез как задача мо-
жет выполняться много раз, чередуясь с решением задач анализа. В задачу
анализа входит изучение свойств схемы по заданной в результате синтеза
ее структуре, характеру входящих в нее компонентов и их параметров.
Методы анализа и расчета электронных схем постоянно развиваются
и совершенствуются. Причин этому несколько. Во-первых, стремительно
усложняется сам предмет анализа за счет:
− качественного перерождения элементной базы (от ламп к транзис-
торам, микросхемам, микропроцессорам, приборам функциональной
электроники);
− возникновения новых принципов построения устройств по усиле-
нию, обработке электрических сигналов, преобразованию электрической
энергии;
− расширения ассортимента приборов и схем с существенно
нелинейными характеристиками (тиристоры, динисторы, однопереходные
транзисторы, оптроны, лямбда-транзисторы, туннельные диоды, магнито-
транзисторные элементы и пр.);
− внедрения новых дискретно-импульсных режимов работы
электронных схем преобразования информации и электрической энергии.
Во-вторых, качественный скачок происходит в технических
средствах анализа и расчета электронных схем (от логарифмической ли-
нейки до микрокалькуляторов, микрокомпьютеров, персональных и уни-
версальных ЭВМ), которые могут теперь производить не только числен-
ные расчеты, но и решать сложные логические задачи.
В-третьих, повышаются требования к точности, масштабности и
глубине анализа и расчета электронных схем, поскольку современная тех-
нология производства (например, микросхем) исключает их эксперимен-
тальную доводку, а требования к техническим и метрологическим пара-
метрам электронных устройств постоянно растут.
В-четвертых, усложняется вид сигналов, воздействующих на схему
за счет массового появления в их составе так называемых разрывных
функций [1].
Цель анализа электронных схем состоит в получении наиболее пол-
ной информации об их свойствах, выявлении соотношений между вход-
ными и выходными параметрами, необходимыми для разработки алго-
3
Введение
Проектирование электронных схем (или просто схемотехническое
проектирование) сводится к решению группы задач синтеза и задач ана-
лиза. При этом под структурным синтезом понимают создание
(интуитивное или формализованное) какого-то варианта схемы, не обяза-
тельно окончательного. В процессе проектирования синтез как задача мо-
жет выполняться много раз, чередуясь с решением задач анализа. В задачу
анализа входит изучение свойств схемы по заданной в результате синтеза
ее структуре, характеру входящих в нее компонентов и их параметров.
Методы анализа и расчета электронных схем постоянно развиваются
и совершенствуются. Причин этому несколько. Во-первых, стремительно
усложняется сам предмет анализа за счет:
− качественного перерождения элементной базы (от ламп к транзис-
торам, микросхемам, микропроцессорам, приборам функциональной
электроники);
− возникновения новых принципов построения устройств по усиле-
нию, обработке электрических сигналов, преобразованию электрической
энергии;
− расширения ассортимента приборов и схем с существенно
нелинейными характеристиками (тиристоры, динисторы, однопереходные
транзисторы, оптроны, лямбда-транзисторы, туннельные диоды, магнито-
транзисторные элементы и пр.);
− внедрения новых дискретно-импульсных режимов работы
электронных схем преобразования информации и электрической энергии.
Во-вторых, качественный скачок происходит в технических
средствах анализа и расчета электронных схем (от логарифмической ли-
нейки до микрокалькуляторов, микрокомпьютеров, персональных и уни-
версальных ЭВМ), которые могут теперь производить не только числен-
ные расчеты, но и решать сложные логические задачи.
В-третьих, повышаются требования к точности, масштабности и
глубине анализа и расчета электронных схем, поскольку современная тех-
нология производства (например, микросхем) исключает их эксперимен-
тальную доводку, а требования к техническим и метрологическим пара-
метрам электронных устройств постоянно растут.
В-четвертых, усложняется вид сигналов, воздействующих на схему
за счет массового появления в их составе так называемых разрывных
функций [1].
Цель анализа электронных схем состоит в получении наиболее пол-
ной информации об их свойствах, выявлении соотношений между вход-
ными и выходными параметрами, необходимыми для разработки алго-
3
