Схемотехника аналоговых интегральных схем. Глинкин Е.И. - 119 стр.

UptoLike

Составители: 

119
7. ЗАКОНОМЕРНОСТИ АНАЛОГОВЫХ ПРЕОБРАЗОВАНИЙ
Создание аналоговых интегральных схем с линейным преобразо-
ванием сигнала без температурного, временного, параметрического
дрейфа с нормируемыми характеристиками относительно эквивалента,
а именно линейных интегральных схем (ЛИС), невозможно без знаний
закономерностей аналоговых преобразований для оптимального про-
ектирования идеального конечного результата (ИКР) микроэлектрони-
ки. Структурная и параметрическая оптимизация реальных АИС с не-
линейными характеристиками, подверженными дрейфу с неравномер-
ными мерами отсчета, – сложная задача из-за неопределенности харак-
теристик и критериев оценки, неявных алгоритмов и трудоемких за-
трат, не учитывающих закономерности диалектического развития ин-
формации и процесса преобразования, интегральных базисов и диффе-
ренциальных форм микроэлектроники.
Известные методы синтеза АИС по итерационному анализу не
дают оптимальных решений за счет последовательного приближения к
неопределенному фантому с эфемерными характеристиками по субъ-
ективному критерию с нерациональной оценкой. Длительность и тру-
доемкость синтеза функций сводит итерационный анализ к недетерми-
нированным решениям с неизвестной вероятностью. Графоаналитиче-
ские методы синтеза транзисторных схем по вольт-амперным характе-
ристикам полупроводниковых приборов нерациональны для целена-
правленного проектирования АИС с оптимальными параметрами из-за
множества независимых характеристик и сложного комплексного кри-
терия нормирования несогласованных режимов.
Анализ графоаналитических, итерационных и оптимизационных
методов диктует необходимость создания инженерной технологии
проектирования ЛИС аналоговых интегральных схем с оптимальны-
ми параметрами, включающую целенаправленную последовательность
простых операторов и стандартных алгоритмов для достижения инно-
вационных решений с желаемыми характеристиками в адаптивном
диапазоне и априори заданной точностью, определяемыми погрешно-
стью образцовых мер границ диапазона.
Ниже систематизированы закономерности диалектического разви-
тия информации и процесса преобразования в интегральном базисе мик-
роэлектроники с дифференциацией по формам функций для организа-
ции информационной технологии проектирования ЛИС методом тожде-
ственности эквивалентам. Метод эквивалентов отличают оператив-