Исследование поверхности наноматериалов с помощью сканирующей зондовой микроскопии. Годымчук А.Ю - 4 стр.

UptoLike

ВУЗ: 

ТПУ | Томск

Составители: 

Рубрика: 

3
и форме поверхностных структурных элементов. Более того,
использование этих методов не дает возможности в деталях разглядеть
морфологию поверхностной структуры, требует высокого вакуума, а
также не исключают изменений поверхности образца. Например,
сканирующая электронная микроскопия (СЭМ), которая позволяет
увидеть псевдотрёхмерное изображение наноструктурных объектов, не
может дать истинного трёхмерного пространственного представления о
рельефе, а для получения высокого разрешения требует высокого
вакуума и организации электропроводящего покрытия,
деформирующего анализируемую поверхность.
Сканирующая зондовая микроскопия (СЗМ) - один из мощных
современных методов исследования морфологии и локальных свойств
поверхности твердого тела с высоким пространственным разрешением.
За последние 10 лет сканирующая зондовая микроскопия превратилась
из экзотической методики, доступной лишь ограниченному числу
исследовательских групп, в широко распространенный и успешно
применяемый инструмент исследования свойств поверхности. В
настоящее время практически ни одно исследование в области физики
поверхности и тонкопленочных технологий не обходится без
применения методов СЗМ. Развитие сканирующей зондовой
микроскопии послужило также основой для развития новых методов в
нанотехнологии – технологии создания и коррекции структур с
нанометровыми масштабами.
Использование сканирующего зондового микроскопа в режиме
сканирующей туннельной (СТМ) и атомно-силовой микроскопии (АСМ)
позволяет решить частично перечисленные проблемы и изучать рельеф
как проводящих, так и диэлектрических материалов. Таким образом,
использование СЗМ значительно упрощает решение ряда задач для
изучения материалов наноразмерного уровня. Нанотехнологические
подходы, использующие сканирующие зонды, базируются на научном
фундаменте и технических приемах, разработанных для СТМ и АСМ. В
их основе лежит возможность позиционирования с высокой точностью
атомарно острого зонда вблизи поверхности образца.
В настоящей лабораторной работе студент приобретает навыки
работы на сканирующем зондовом микроскопе учебно-
исследовательского уровня (СЗМ «Nanoeducator»).

Страницы