Методические указания к лабораторному практикуму по оптике для студентов физического факультета. Голицына О.М - 30 стр.

UptoLike

Рубрика: 

30
Положение точки P определяется положением объектной плоскости
микропроектора и отсчитывается по шкале. b - определяется как разность
отсчетов положения преграды D с отверстием и положения микропроектора M.
Изменяя положение микропроектора, можно изменять значение b и наблюдать на
экране изменение дифракционной картины . Определяя расстояния b, для которых
наблюдаются экстремумы в центре дифракционной картины (максимумы и
минимумы), можно по формуле (3) найти m и λ.
Будем передвигать микропроектор, приближая его к преграде с отверстием
D. При этом b будет уменьшаться . Пусть первому наблюдаемому минимуму
соответствует m
0
открытых зон Френеля. Тогда для этого и последующих
минимумов и максимумов формулу (3) можно записать в виде:
()
1
0
2
b
mk
r
=+
λ
, (4)
где k=0, 1, 2, 3, ... - порядковый номер экстремума.
Поскольку m
0
заранее неизвестно , введем обозначения:
Am
r
=
0
2
λ
, B
r
=
λ
2
. (5)
Тогда можно записать:
1/b= A+kB . (6)
Как следует из (6), величина 1/b линейно зависит от номера экстремума k.
Строя такую зависимость и определяя A и B (по графику или по методу
наименьших квадратов [2]), можно затем вычислить λ и m
0
по формулам :
лазер
D
x
D
x
b
P
M
P'
экран
b
Рис.2. Схема опыта по наблюдению дифракции Френеля на круглом отверстии.
                                     30
                                                             экран
                                                    P'
                     D
                                                             M

                                          P
   лазер
                                b


                    xD                    xb

Рис.2. Схема опыта по наблюдению дифракции Френеля на круглом отверстии.

      Положение точки P определяется положением объектной плоскости
микропроектора и отсчитывается по шкале. b - определяется как разность
отсчетов положения преграды D с отверстием и положения микропроектора M.
Изменяя положение микропроектора, можно изменять значение b и наблюдать на
экране изменение дифракционной картины. Определяя расстояния b, для которых
наблюдаются экстремумы в центре дифракционной картины (максимумы и
минимумы), можно по формуле (3) найти m и λ.
     Будем передвигать микропроектор, приближая его к преграде с отверстием
D. При этом b будет уменьшаться. Пусть первому наблюдаемому минимуму
соответствует m0 открытых зон Френеля. Тогда для этого и последующих
минимумов и максимумов формулу (3) можно записать в виде:
                  1          λ
                    =(m0 +k ) 2 ,                                (4)
                  b          r
где k=0, 1, 2, 3, ... - порядковый номер экстремума.
      Поскольку m0 заранее неизвестно, введем обозначения:
                         λ        λ
                 A =m0      , B =    .                           (5)
                         r2       r2
     Тогда можно записать:
                1/b= A+kB .                                       (6)
     Как следует из (6), величина 1/b линейно зависит от номера экстремума k.
Строя такую зависимость и определяя A и B (по графику или по методу
наименьших квадратов [2]), можно затем вычислить λ и m0 по формулам: