Надежность информационных систем. Громов Ю.Ю - 41 стр.

UptoLike

ВУЗ: 

ТГТУ | Тамбов

Составители: 

Рубрика: 

вв
вв ,вв вв
( );
ci c
i E
N N N M
∈
= +
∑
выв
выв ,выв выв
( ),
ci c
i E
N N N M
∈
= +
∑
(7.5)
где
i
m
– количество секций в
i
-м алгоритме ФПО;
R
– количество алгоритмов;
вв выв
,
E E
– множество секций ввода и вывода;
в
n
– количество межсекционных связей в
i
-м алгоритме;
a
вв выв
, ,
M M M
– количество связей между алгоритмами,
межсекционных связей ввода и вывода.
В АСОИУ часто применяют группы однотипных датчиков и исполнительных механизмов, для управления которыми
используют копии программных секций ввода и вывода. Тогда в (7.5) включают только один экземпляр секции, но все
межсекционные связи. Если при выполнении ФСО используют одну или несколько баз данных (БД), содержащих
постоянные и условно-постоянные данные, вносимые на этапе проектирования, то рассчитывают суммарное количество
дефектов по всем БД:
1
БД
1 0 2 c 3
1
( ( , , , ) ( , , ) ),
R
i i i i i i i i i i
i
N N V V S l N V N
=
= + λ τ +
∑
(7.6)
где
1 2 3
, ,
i i i
N N N
– количество дефектов подготовки данных, дефектов данных вследствие сбоев аппаратуры, дефектов после
неумышленных ошибок вследствие несанкционированного доступа к данным;
0
,
i i
V V
– общий объём и объём, используемый
при выполнении данной ФСО в
i
-й БД;
i
l
– уровень языка;
c
i
λ
– интенсивность сбоев;
i
τ
– время функционирования БД при
выполнении ФСО;
i
S
– характеристики структуры данных.
Наконец рассчитывают исходное число дефектов по всему ФПО и ИО при выполнении данной ФСО в виде суммы:
ФСО a вв выв БД
N N N N N
= + + +
. (7.7)
Расчёт остаточного числа дефектов после автономной отладки. После разработки алгоритмов и программных модулей
(секций) проводят автономную отладку (АО). Остаточное число дефектов (ОЧД) оценивают с помощью модели АО,
позволяющей установить зависимость
(АО) (АО)
a a
( , , ,
Э
),
ci ci ci i i i
N N N n
= τ
(7.8)
где
ci
N
– исходное число дефектов в
i
-й секции;
i
n
– размерность входного вектора;
a
i
τ
– длительность отладки;
a
Э
i
–
коэффициент эффективности отладки.
Расчёт по формуле (7.8) может дать дробное число и трактуется как математическое ожидание случайного числа
дефектов. Разработка секций является в основном результатом индивидуального творчества программиста, но проводится в
некоторой среде САПР ПО с помощью инструментальных средств. Поэтому эффективность АО зависит также и от
возможностей и характеристик САПР ПО. Эта зависимость учитывается при оценке коэффициента
a
Э
i
. После коррекции
числа дефектов в секциях по результатам АО проводят перерасчёт числа дефектов в укрупнённых составных частях с
помощью формул (7.3) – (7.7).
Расчёт остаточного числа дефектов после комплексной отладки.
Комплексная отладка
(КО) предусматривает
статическую отладку отдельных алгоритмов, совокупности алгоритмов и секций ввода/вывода, всех средств ФПО и ИО,
используемых при выполнении конкретной ФСО, а затем динамическую отладку. В этой процедуре можно выделить три
этапа:
1. Отладка путём имитации реальных алгоритмов в инструментальной среде САПР ПО при имитации окружающей
среды, в том числе объекта управления. Этот этап является, по существу, отладкой математического обеспечения.
2. Отладка реальных алгоритмов при имитации окружающей среды. Этап позволяет провести статическую отладку и в
ограниченной степени – динамическую отладку.
3. Отладка реальных алгоритмов, сопряжённых с реальным объектом управления. Этап позволяет провести в полном
объёме динамическую отладку.
Модели КО разрабатывают применительно к этапам 1 и 2, они призваны оценить ещё на стадии разработки программ
эффективность отладки, остаточное число дефектов (ОЧД) после КО в укрупнённых составных частях ФПО и ИО с
помощью зависимостей типа:
(КО) (КО) (АО)
а a а
( , , ,
Э );
k k k
N N N n
= τ
(КО) (КО) (АО) (АО)
вв/выв вв/выв вв выв 1 1 1
( , , , ,
Э );
k k k
N N N N n
= τ
(КО) (КО) (АО)
БД БД БД 2 2
( , ,
Э ),
k k
N N N
= τ
где
1
,
k k
n n
– размерности входного вектора;
1 2
, ,
k k k
τ τ τ
– длительности отладки;
1 2
Э , Э , Э
k k k
– коэффициенты
эффективности отладки.
Перерасчёт остаточного числа дефектов для ФПО и ИО проводится по формуле (7.7).
Оценка вероятности проявления дефекта при однократном выполнении ФСО.
Дефекты, не обнаруженные при
автономной и комплексной отладках, не являются случайными событиями, так как, в отличие от дефектов производства
аппаратуры, они не развиваются во времени, а программное изделие не подвержено процессу физического старения.

Страницы