Основы диэлектрической спектроскопии. Гусев Ю.А. - 84 стр.

UptoLike

Составители: 

84
()
ld
tg
Δ+
=
λ
π
πα
λ
ε
,
dK
изм
c
π
λ
ε
2
1
=
,
(3.61)
где
c
K - коэффициент стоячей волны.
Оригинальным местом в данной установке является измерительная ячейка,
которая была собрана в лаборатории диэлектрической спектроскопии (рис. 30).
Рис. 30. Измерительная ячейка
Установка была проградуирована эталонными веществами. Данные по
измерению диэлектрических характеристик воды на разных частотах в сравнении с
результатами, полученными методом ЧКР со спиральным внутренним проводником,
приведены в таблице 6.
Погрешности измерений оценивались по формулам:
()
()
+Δ
Δ+
+
+
Δ+
=
λ
λ
λδδ
λ
π
πα
δ
λ
δλ
λ
π
πα
εδ
ddl
ld
d
dld
tg
1
1
111
2
,
=
d
d
K
KK
c
cc
δ
λ
δ
λ
δλ
πα
εδ
2
1
,
где точность измерений
lΔ
- 0,001 мм,
d
- 0,01 мм, погрешность определения длины
волны
в
λ
по внутреннему волномеру - 0,25%. Полученная погрешность для
ε
- 5-6%,
для
ε
- 8-10%. Причем, метод "тонкого" образца позволяет измерять только
высокопотерные вещества. Следовательно, мы еще раз убеждаемся в преимуществах
предложенного метода с использованием ЧКР со спиральным внутренним
проводником.
                                              λ     π
                                      ε′ =      tg          ,
                                             πα λ (d + Δl )
                                                                                                       (3.61)
                                                ⎛ 1    ⎞       λ
                                        ε ′′ = ⎜⎜      ⎟⎟         ,
                                                ⎝ Kc    ⎠ изм 2πd
где K c - коэффициент стоячей волны.
     Оригинальным местом в данной установке является измерительная ячейка,
которая была собрана в лаборатории диэлектрической спектроскопии (рис. 30).




                                           Рис. 30. Измерительная ячейка


     Установка была проградуирована эталонными веществами. Данные по
измерению диэлектрических характеристик воды на разных частотах в сравнении с
результатами, полученными методом ЧКР со спиральным внутренним проводником,
приведены в таблице 6.
     Погрешности измерений оценивались по формулам:


                   1            π        ⎡    λ ⎤ 1                       1          ⎡             1 ⎤
          δε ′ =        tg               ⎢δλ − δd ⎥ + ⋅                              ⎢⎣δΔl + λδd − λ dλ ⎥⎦ ,
                   πα        λ (d + Δl ) ⎣    d ⎦ πα                 ⎡     π
                                                                                   2
                                                                                   ⎤
                                                                  1+ ⎢             ⎥
                                                                     ⎣ λ (d + Δl ) ⎦


                                             ⎛     1 ⎞ ⎛            λ        λ ⎞
                                    δε ′′ = ⎜⎜         ⎟⎟ ⋅ ⎜⎜ δλ −    δK c − δd ⎟⎟ ,
                                             ⎝ K c 2πα ⎠ ⎝          Kc       d ⎠


где точность измерений Δl - 0,001 мм, d - 0,01 мм, погрешность определения длины
волны λв по внутреннему волномеру - 0,25%. Полученная погрешность для ε ′ - 5-6%,
для ε ′′ - 8-10%. Причем, метод "тонкого" образца позволяет измерять только
высокопотерные вещества. Следовательно, мы еще раз убеждаемся в преимуществах
предложенного метода с использованием ЧКР со спиральным внутренним
проводником.




                                                                                                                84