Составители:
Рубрика:
спектроскопия, вторично-ионная масс-спектрометрия) - для анализа
элементного состава материалов, в том числе тонких слоев и припо-
верхностных областей;
- дифракционные методы (рентгеноструктурный анализ, элек-
тронография, нейтронография) - для анализа структуры и фазового
состава материала;
- ядерно-физические (активационный анализ, ядерная спектро-
скопия, спектрометрия обратного рассеяния ) - для анализа элемент-
ного состава, в том числе неразрушающего анализа распределения
легких элементов по глубине.
Важное место в технологии контроля качества занимают методы
оценки и прогнозирования (группового и индивидуального) надежно-
сти конденсаторов. К настоящему времени для основных типов кон-
денсаторов разработаны модели прогнозирования срока службы (ин-
тенсивности отказов), методы группового прогнозирования надежно-
сти по результатам нормальных испытаний, по результатам форсиро-
ванных испытаний, а также индивидуальное прогнозирование надеж-
ности с использованием методов неразрушающего контроля качества.
Для решения этих задач необходимы специальные исследования
по изучению причин и механизмов отказов различных типов конден-
саторов, выявлению информативных параметров для диагностики ка-
чества и надежности конденсаторов.
84
