ВУЗ:
Составители:
жения кристаллитов в частицах нанопорошка
σ
/E (Е – модуль Юнга мо-
нокристалла ZrO
2
), рассчитанные по формуле Холла-Вильямсона [91],
изменялись немонотонно в зависимости от мощности УЗ-обработки: от
2002 до 0.003 для t-фазы и от 0.0035 до 0.004 для m-фазы (рис. 2.13) об-
ращает на себя внимание противоположный характер хода зависимо-
стей
σ
/E=f(W) для указанных фаз: когда микронапряжения в кристалли-
тах t-фазы возрастают, для m-фазы они уменьшаются, и наоборот. Такое
взаимосвязанное поведение возможно объяснить обратимыми t-m пере-
ходами в исследуемых частицах при различной мощности ультразвука.
Структура отдельных частиц исследуемых порошков анализирова-
лась методами высокоразрешающей электронной микроскопии
(HRTEM) в Korea Advanced Institute of Science and Technology.
Непосредственно перед HRTEM-анализом из исследуемых образцов
нанопорошков готовился дисперсный раствор в ацетоне или этиловом
спирте, который обрабатывался в ультразвуковой ванне в течение
5 мин. Затем по 1–2 капли суспензии помещались на медную сетку, по-
крытую углеродом, которая затем высушивалась на воздухе. Для
HRTEM-исследований в поле микроскопа выбирались отдельные час-
тицы YSZ размерами до 50 нм.
Рис. 2.13 Относительные микронапряжения в кристаллитах t- и m-фаз в нано-
частицах порошков Z0, Z1, Z2, Z3
HRTEM-анализ проводился на микроскопе JEOL JEM-3010EX при
ускоряющем напряжении 300 кВ, с разрешением 0.17 нм. Размер апер-
турной диафрагмы, используемый для HRTEM-изображений, составлял
9 нм обратных. Для получения HRTEM-изображений применялось про-
граммное обеспечение «SCION images», «Electron Microscope Image Si-
mulation»).
57
Страницы
- « первая
- ‹ предыдущая
- …
- 55
- 56
- 57
- 58
- 59
- …
- следующая ›
- последняя »
