ВУЗ:
Составители:
Рис. 3.7. Микроструктура шлифов Y–ЦТП керамики (t=0,6) по данным опти-
ческой микроскопии:
а) О-керамика; б, в) УЗ-керамика; г) отфильтрованное изо-
бражение участка УЗ-керамики, представленного на рисунке 3.5в
Рис. 3.8. ПЭМ-анализ поверхности разрушения керамики Y-ТЦП (t=0,6;
Р=744 МПа): а), в) – О-керамика; б), г)– УЗ-керамика (W=3 кВт)
80
Страницы
- « первая
- ‹ предыдущая
- …
- 78
- 79
- 80
- 81
- 82
- …
- следующая ›
- последняя »
