Методы компактирования и консолидации наноструктурных материалов и изделий. Хасанов О.Л - 187 стр.

UptoLike

187
σ
/
E
= 0.0654 / d
ОКР
R
2
= 0.9953
0.0003
0.0006
0.0009
0.0012
0.0015
0.0018
30 50 70 90 110
d
ОКР
, нм
σ
/E
1650
o
C
1690
o
C
Рис. 4.50. Зависимость величины относительных микронапряжений от размера
ОКР для керамики, спечённой из 50 мм прессовок НП 3Y-ZrO
2
: на диаграмме пред-
ставлены уравнение аппроксимации экспериментальных данных для температуры
спекания 1690 °С и величина коэффициента корреляции R
2
Продолжительное УЗВ в процессе компактирования НП 3Y-ZrO
2
,
оказывая существенное влияние на плотность прессовок и спечённой в
вакууме керамики, не имеет заметных преимуществ в повышении её
прочностных свойств по сравнению с кратковременным УЗВ. На пред-
ставленных зависимостях микротвёрдости (рис. 4.56) и трещиностойко-
сти (рис. 4.57) от уровня и продолжительности УЗВ видно, что положе-
ния экстремумов указанных зависимостей для различной продолжи-
тельности воздейст
вия совпадают, и соответствуют экстремумам зави-
симостей плотности прессовок (рис. 4.16) и спечённой керамики
(рис. 4.26).
Спекание в вакууме приводит к возникновению в керамике на основе
НП 3Y-ZrO
2
моноклинной и к стабилизации кубической фазы ZrO
2
, с
содержанием которых наблюдается корреляция её прочностных свойств.
В этой керамике также наблюдается обратная корреляция величин ОКР
и относительных микронапряжений кристаллитов). При этом величина
фактических микроискажений различных кристаллических фаз с ростом
уровня УЗВ изменяется по-разному. Влияние УЗВ на моноклинную фа-
зу носит активационный характер; на тетрагональнуюрелаксацион-
ный.