Источники и приемники излучения - 102 стр.

UptoLike

ВУЗ: 

Университет ИТМО | Санкт-Петербург

Составители: 

Рубрика: 

102
основная погрешность градуировки шкалы длин волн
в УФ области 0,1 нм;
в видимой области 0,5 нм;
в ИК области 5 нм.
Структурная схема прибора представлена на рис. 54.
СТ Ос М Обр ПОИ У
А
ИП
КД
ПН
~
Рис. 54. Структурная схема СФ-26
Стабилизатор тока СТ поддерживает постоянство тока, проте-
кающего через источники излучения, расположенные в осветителе Ос.
Излучение со сплошным спектром от осветителя поступает на моно-
хроматор М, выделяющий монохроматическое излучение различных
длин волн. Это излучение проходит затем через образец Обр и попа-
дает на приемник оптического
излучения ПОИ. Сигнал с ПОИ посту-
пает на вход усилителя У. Нагрузкой ПОИ являются делитель Д,
позволяющий изменять чувствительность усилителя, и компенсатор
К, вводящий в измерительную систему компенсирующее напряжение
для повышения точности отсчета, включенные в цепь обратной связи
усилителя. Усиленный сигнал подается на аттенюатор А, служащий
для изменения масштаба шкалы измерительного
прибора ИП. Преоб-
разователь напряжения ПН обеспечивает напряжения питания, необ-
ходимые для нормальной работы измерительной схемы.
Внешний вид прибора и органы управления показаны на рис. 55:
−тумблер 1 "СЕТЬ" с сигнальной лампой 2 служит для включе-
ния прибора;
−сигнальная лампа 3 "Д" показывает включение в качестве ис-
точника излучения дейтериевой
лампы для работы в облас-
ти 186…350 нм;
−сигнальная лампа 4 "Н" показывает включение в качестве ис-
точника излучения лампы накаливания для работы в облас-

Страницы