ВУЗ:
Составители:
Рубрика:
– быть наиболее простой (если можно провести прямую линию, то проводят прямую, а не ломанную или кривую).
Если в работах требуется найти коэффициент линейной зависимости у = ах + b, где у – функция, х – аргумент, а и
b – искомые коэффициенты, то в этом случае желательно применять метод наименьших квадратов, для чего необходимо
выбрать на графике линейный участок и для него рассчитать коэффициенты по формулам:
∑∑
∑∑∑
==
===
−
−
=
N
i
N
i
ii
N
i
N
i
N
i
iiii
xxN
yxyxN
a
1
2
1
2
111
,
xayb
−
=
где N – число обрабатываемых точек, i – номер точки.
Лабораторная работа № 1
ИЗУЧЕНИЕ ОПТИЧЕСКИХ ИЗМЕРИТЕЛЬНЫХ ПРИБОРОВ
Цель работы: освоить приемы и методы работы на оптических микроскопах.
Приборы и принадлежности: микроскопы проходящего света, микроскопы отраженного света, объект-микрометр, окуляр-
микро-метр, образцы для наблюдения микроструктуры.
Методические указания
Световой микроскоп предназначен для формирования изображения структур, мелкие детали которых нельзя различить
невооруженным глазом, и для измерения линейных размеров этих деталей. Для этого видимое изображение должно быть
увеличенным, достаточно контрастным и, кроме того, должно обеспечивать правильное воспроизведение характерных
особенностей рассматриваемых структур.
По принципу действия микроскопы делятся на отражательные,
просвечивающие и универсальные (рис. 1.1).
В микроскопе на просвет исследуемый объект, помещенный на
предметный столик микроскопа, освещают световым пучком. Свет
частично рассеивается на верхней и нижней поверхностях образца,
преломляется и поглощается в его теле. Различие в оптических
свойствах отдельных участков объекта обусловливает разную
интенсивность прошедших через него лучей. В результате – получается
"теневое" изображение объекта.
В микроскопе на отражение контраст изображения формируется за
счет гашения или отражения света на микронеровностях поверхности
обычно непрозрачного объекта. Очевидно, что в этом случае на
полированной гладкой поверхности нельзя различить детали
микроструктуры. Поэтому при работе "на отражение" объект
специально приготавливают с целью создания микрорельефа,
связанного с его внутренним строением.
Одной из важнейших характеристик любой оптической системы, в
том числе и микроскопа, является увеличение, М. В общем случае его
можно определить по формуле
окоб
туб
окоб
250
FF
l
MMM ==
, (1.1)
где
об
M ,
ок
M
– увеличение объектива и окуляра;
туб
l
– оптическая длина тубуса;
об
F и
ок
F – фокусные расстояния
объектива и окуляра. Если в формировании изображения участвует еще одна линза (промежуточная), в формуле (1.1)
появится новый сомножитель и т.д.
Следует учитывать, что оптическую длину тубуса часто не удается измерить точно, особенно при фотографировании, и
это вносит определенные погрешности в расчет увеличения по формуле (1.1). Для определения истинного масштаба
изображения используют специальные тарированные шкалы – объект-микрометры.
Согласно (1.1) как будто имеется возможность неограниченного повышения масштаба увеличения в световом
микроскопе. Однако рост масштаба увеличения, начиная с некоторого предельного значения, не позволяет получить четкого
контрастного изображения, различить наиболее мелкие детали объекта. Это нельзя объяснить геометрической оптикой. Если
же рассматривать распространение света как волновой процесс, то существование такого предела легко объяснимо.
Впервые такой волновой подход использовал ученый-оптик Эрнст Аббе, который ввел понятие разрешающей
способности линзы. Ее показателем является разрешаемое расстояние d
p
– наименьшее расстояние между двумя точками
объекта, при котором они воспринимаются раздельно, не сливаясь в одно пятно. По формуле Аббе
Рис. 1.1 Схема микроскопов на просвет (а) и
отражение (б):
1 – источник света; 2 – конденсор;
3 – объект; 4 – объектив; 5 – окуляр;
6 – полупрозрачное зеркало
б
а
4
1
2
6
1
2
4
6
3
5
Страницы
- « первая
- ‹ предыдущая
- …
- 3
- 4
- 5
- 6
- 7
- …
- следующая ›
- последняя »
