Физико-химические основы РЭС. Методическое пособие - 4 стр.

UptoLike

ка обычно выбирают – 120 × 120 или 150 × 120 мм;
построить оси координат на графике и указать на осях единицы измерений (например, Y, мв ; X,
кг).
Если все величины у
i
или x
i
определяются числом типа A 10
m
, то множитель 10
m
можно вынести
на ось координат (пример, Y, 10
–3
Ом). При этом каждое значение по оси Y умножается на 10
–3
. Если на
оси обозначено [Y 10
–3
, Ом], каждое значение величины умножается на 10
3
;
после построения осей координат нанести на график экспериментальные точки у
i
= f (x
i
). В случае,
когда значения x
i
определяются с точностью много большей чем у
i
(пример, они заданывес гирек) и
для каждого измерено несколько значений у
j
(j = 3), то для построения зависимости у = f (х)
следует для каждого x
i
посчитать среднее значение
3
3
1
=
=
=
j
j
ij
i
y
y
среднее квадратичное отклонение
y
S
, доверительные интервалы и нанести на график эти значения для
каждого x
i
.
Линию на график (рис. 1) наносят так, что она должна:
проходить через отрезки, характеризующие разброс значений вокруг среднего (доверительные
интервалы);
быть наиболее простой (если можно провести прямую линию, то проводят прямую, а не ломан-
ную или кривую).
Если в работах требуется найти коэффициент линейной зависимости у = ах + b, где уфункция; х
аргумент; а и b искомые коэффициенты, то в этом случае желательно применять метод наименьших
квадратов, для чего необходимо выбрать на графике линейный участок и для него рассчитать коэффи-
циенты по формулам:
∑∑
∑∑
==
===
=
N
i
N
i
ii
N
i
N
i
N
i
iiii
xxN
yxyxN
a
1
2
1
2
111
;
xayb
=
,
где N – число обрабатываемых точек; i номер точки.
Лабораторная работа 1
ИЗУЧЕНИЕ ОПТИЧЕСКИХ ИЗМЕРИТЕЛЬНЫХ ПРИБОРОВ
Цель работы: освоить приемы и методы работы на оптических микроскопах.
Приборы и принадлежности: микроскопы проходящего света, микроскопы отраженного света, объект-
микрометр, окуляр-микро-метр, образцы для наблюдения микроструктуры.
Методические указания
Световой микроскоп предназначен для формирования изображения структур, мелкие детали кото-
рых нельзя различить невооруженным глазом, и для измерения линейных размеров этих деталей. Для
этого видимое изображение должно быть увеличенным, достаточно контрастным и, кроме того, должно
обеспечивать правильное воспроизведение характерных особенностей рассматриваемых структур.
Y, В
Х, А