ВУЗ:
Составители:
36
чем менее интенсивно они разрушаются). Завершается период износа III
(а вместе с ним прекращается и эксплуатация аппаратуры), когда
интенсивность отказов ЭВА приблизится к максимально допустимой λ
для данной конструкции. Это происходит в точке t
3
(по истечении
времени t
2
—t
3
).
В заключение отметим, что все перечисленные виды отказов носят
случайный характер.
СТРУКТУРНАЯ НАДЕЖНОСТЬ
Структурная надежность любого радиоэлектронного аппарата, в
том числе и ЭВМ,— его результирующая надежность при известной
структурной схеме и известных значениях надежности всех элементов,
составляющих структурную схему.
При этом под элементами понимаются как интегральные
микросхемы, резисторы, конденсаторы и т. п., выполняющие
определенные функции и включенные в общую электрическую схему
ЭВМ, так и
элементы вспомогательные, не входящие в структурную
схему ЭВМ: соединения паяные, разъемные, элементы крепления и т. д.
Надежность указанных элементов достаточно подробно изложена в
специальной литературе. При дальнейшем рассмотрении вопросов
надежности ЭВМ будем исходить из того, что надежность элементов,
составляющих структурную (электрическую) схему ЭВМ, задана
однозначно.
Количественные характеристики структурной
надежности ЭВМ
Для их нахождения составляют структурную схему ЭВМ и
указывают элементы устройства (блоки, узлы) и связи между ними.
Затем производят анализ схемы и выделяют те ее элементы и связи,
которые определяют выполнение основной функции данного
устройства.
Далее из выделенных основных элементов и связей составляют
функциональную (надежностную) схему, причем в ней выделяют
элементы
не по конструктивному, а по функциональному признаку с
таким расчетом, чтобы каждому функциональному элементу
обеспечивалась независимость, т. е. чтобы отказ одного
функционального элемента не вызывал изменения вероятности
появления отказа у другого — соседнего функционального элемента.
Поэтому при составлении отдельных надежностных схем (устройств
узлов, блоков) иногда следует объединять те конструктивные элементы,
отказы
которых взаимосвязаны, но не влияют на отказы других
элементов.
Определение количественных показателей надежности ЭВМ с
помощью структурных схем дает возможность решать вопросы выбора
Страницы
- « первая
- ‹ предыдущая
- …
- 34
- 35
- 36
- 37
- 38
- …
- следующая ›
- последняя »