Лабораторный практикум по общей физике. Оптика. Карпов А.В - 38 стр.

       Рис. 3. Дифракция на сетке. Расположение максимумов интенсивности на экране наблюдения


        Цель работы.
        В работе изучается дифракция лазерного света на сетках с различными размерами ячеек.
Определяются параметры сетки по дифракционной картинке и при прямом измерении. Проверяются
основные соотношения (2).
        Принадлежности. Полупроводниковый лазер с длиной волны 670 нм, направляющая, набор
рейтеров, объект – две сетки с различным размером ячеек, голографическая дифракционная решетка 50
штрихов на мм, линза, экран для наблюдения с магнитами для крепления бумаги, карандаш, линейка.




             Рис. 4. Схема опыта для наблюдения дифракции на сетке. 1 – Лазер 2. – Объект.
                              3. – Экран наблюдения. 4. – Направляющая
        Методика проведения. Для наблюдения дифракции Фраунгофера используется установка,
схема которой дана на рис. 4. Световые параллельные лучи полупроводникового лазера освещают
объект-сетку и испытывают на ней дифракцию. Картина наблюдается на экране Э. Размер l между
объектом и экраном выбирается так, чтобы выполнялось условие P      1 (Sin θ ≈ θ).
        Схема рис. 4 собирается на направляющей рис. 5.
        Измеряя положение дифракционных максимумов и расстояние l можно определить размер
ячейки сетки и сравнить его со значениями, полученными при непосредственном измерении размера
щели




                                                  38