Экранирование электронной аппаратуры от воздействия электромагнитного поля. Корнилов А.Г. - 15 стр.

                Условные обозначения, используемые в расчетах
                              по экранированию.
К(Е) – коэффициент, характеризующий эффективность экранирования электри-
        ческих полей
К(Н) - коэффициент, характеризующий эффективность экранирования магнит-
        ных полей
К(ЕН) - коэффициент, характеризующий эффективность экранирования элек-
        тромагнитных полей
К(П) - коэффициент экранирования за счет поглощения энергии помехи ( рас-
       сеяние энергии помехи в экране)
К(О) - коэффициент экранирования за счет отражения энергии помехи от экрана
f – частота источника помех
ρ - удельное сопротивление материала, из которого выполнен экран
μ - относительная магнитная проницаемость экрана
R – расстояние между источником помехи и приемником
RM - максимальный размер экрана (наибольший из размеров по X, Y, Z)
λ - длина электромагнитной волны
ZO - волновое сопротивление воздушного пространства для электромагнитных
       волн
α - коэффициент вихревых токов
t – толщина материала из которого выполнен экран
ZH – волновое сопротивление воздушного пространства для магнитной состав-
ляющей
ZE - волновое сопротивление воздушного пространства для электрической со-
ставляющей
ZM - волновое сопротивление экрана.
                                Литература:
      1. А. П. Ненашев. Конструирование радиоэлектронных средств М. Выс-
шая школа 1990
      2. Справочник конструктора РЭА. Общие принципы конструирования
под редакцией Р.Г.Варламова М."Советское радио" 1980
      3. П.П.Гель, Н.К. Иванов-Осипович Конструирование и микроминиатю-
ризация радиоэлектронной аппаратуры, Ленинград, Энергоиздат, 1984.
4. О.П. Лавренов. Практика конструирования РЭС. Учебное пособие, Казань,
   КГТУ им.А.Н.Туполева, 1995.




                                                                        15