Составители:
Рубрика:
147
Рис
. 3.7.
Формирование
спектральной
характеристики
интерференционного
светофильтра
Хотя
интерференционные
светофильтры
рекомендуется
располагать
в
параллельном
пучке
лучей
,
по
условиям
экспериментов
их
часто
используют
в
наклонных
и
расходящихся
пучках
лучей
.
При
этом
необходимо
учитывать
изменение
их
характеристик
:
положения
максимума
полосы
пропускания
,
ширины
полосы
2δλ,
формы
контура
полосы
.
Изменение
свойств
светофильтра
как
многослойной
системы
при
наклонном
падении
света
происходит
по
двум
главным
причинам
.
Это
,
во
-
первых
-
изменение
эффективной
оптической
толщины
слоев
nhcosθ (θ -
угол
преломления
в
слое
),
а
во
-
вторых
-
изменение
френелевских
амплитудных
коэффициентов
отражения
и
пропускания
на
границах
слоев
.
Рассмотрим
их
влияние
.
Зависимость
относительного
смещения
полосы
∆λ⁄λ
0
светофильтра
,
состоящего
из
двух
зеркал
и
разделительного
слоя
толщиной
2
λ
kdn
p
=
,
дается
соотношением
: ∆λ⁄λ
0
=θ
0
2
/2n
р
2
,
где
θ
0
-
угол
падения
света
на
систему
.
Для
расходящегося
конического
пучка
относительный
сдвиг
полосы
оказывается
вдвое
меньшим
.
Определим
апертуру
светофильтров
θ
M
как
значение
угла
падения
,
при
котором
смещение
полосы
∆λ
M
равно
ширине
полосы
пропускания
2δλ (
рис
.3.8).
Тогда
выражение
для
θ
M
будет
иметь
вид
:
./4
0
λδλθ
pм
n
=
(3.15)
Это
соотношение
позволяет
сделать
два
важных
качественных
вывода
:
Рис
. 3.8.
Определение
апертуры
светофильтра
1.
Наибольшие
углы
падения
допускают
светофильтры
с
высоким
показателем
преломления
разделительного
слоя
,
например
,
осуществленные
на
основе
веществ
ZnS, ZnSe, Ge,
Р
bF
2
и
др
.
Отметим
здесь
же
,
что
на
практике
Страницы
- « первая
- ‹ предыдущая
- …
- 145
- 146
- 147
- 148
- 149
- …
- следующая ›
- последняя »
