Составители:
Рубрика:
3
ОГЛАВЛЕНИЕ
ИСПОЛЬЗУЕМЫЕ ОБОЗНАЧЕНИЯ.........................................................................4
ВВЕДЕНИЕ........................................................Ошибка! Закладка не определена.
ЧАСТЬ I. АНАЛИЗ И СИНТЕЗ ИНТЕРФЕРЕНЦИОННЫХ ПОКРЫТИЙ ...........7
1.1. Модель для расчета интерференционных покрытий ..............................................7
1.2. Рекуррентный метод ..................................................................................................12
1.3. Матричный метод .......................................................................................................16
1.4. Метод эквивалентных слоев......................................................................................19
1.5. Просветляющие покрытия .........................................................................................20
1.6. Диэлектрические зеркала ..........................................................................................28
1.7. Интерференционные фильтры..................................................................................34
1.8. Отрезающие светофильтры ......................................................................................37
1.9. Узкополосные светофильтры, построенные по схеме интерферометра Фабри -
Перо 40
1.10. Изменение пропускания по мере формирования узкополосных светофильтров50
1.11. Изменение спектральных характеристик узкополосных светофильтров при
наклонном падении ...........................................................................................................54
1.12. Светофильтры на основе нарушенного полного внутреннего отражения. ..........57
1.13. Программа расчета интерференционных покрытий..............................................69
1.14. Контрольные вопросы и задания к практической работе.....................................72
ЧАСТЬ II. ИЗГОТОВЛЕНИЕ ИНТЕРФЕРЕНЦИОННЫХ ПОКРЫТИЙ.............73
2.1.
Методы изготовления оптических покрытий.....................................................73
2.2.
Экспериментальное оборудование для изготовления оптических пленок
методами термического напыления.................................................................................80
2.3.
Формирование пленок постоянной толщины ....................................................92
2.4.
Методы контроля толщин пленок ....................................................................102
ЧАСТЬ III. ЛАБОРАТОРНЫЕ РАБОТЫ...............................................................127
3.1.
Лабораторная работа №1.................................................................................127
3.2.
Лабораторная работа №2.................................................................................133
3.3.
Лабораторная работа №3.................................................................................139
3.4.
Лабораторная работа №4.................................................................................143
3.5.
Лабораторная работа №5.................................................................................152
3.6.
Лабораторная работа №6.................................................................................164
Приложение 1. Источники излучения в ИК–области спектра .............................171
Приложение 2. Приемники ИК–излучения............................................................171
Приложение 3. Техническое описание монохроматора МУМ-2.........................175
Приложение 4. Техническое описание спектрофотометра ИКС – 16.................177
Приложение 5. Техническое описание спектрофотометра ИКС – 22.................179
Приложение 6. Приставка для исследования отражения .....................................182
Приложение 7. Основные требования при выполнении чертежей оптических
деталей........................................................................................................................182
Список рекомендуемой литературы .......................................................................187
