Автоматизированный контроль аналоговых интегральных микросхем. Крылов В.П. - 21 стр.

UptoLike

Составители: 

21
Таблица 2.7. Измерение тока потребления ±I
CC
Диапазон Разрешение Погрешность
0 - 50 мкА 0,1 мкА ± (2 % + 10 мкА)
31,2 - 500 мкА 1 мкА ± (2 % + 20 мкА)
312 - 5000 мкА 10 мкА ± (2 % + 50 мкА)
3,12 - 5 мА 100 мкА ± (2 % + 400 мкА)
31,2 - 130 мА 1 мА ± (2 % + 1 мА)
Таблица 2.8. Измерение коэффициента усиления по напряжению сигнала
большого уровня
Диапазон Разрешение Погрешность
0,9523 - 0,9969 0,0001 ± 0,1 %
0,9950 - 0,9997 0,0001 ± 0,03 %
0,9995 - 1,000 0,0001 ± 0,02 %
Возможности тестера при измерении коэффициента ослабления
влияния изменений величины напряжения питания ±P SRR отраже-
ны в табл. 2.5.
Максимальная скорость нарастания сигнала SR или ±SLEW
при V
0
= 10 В измеряется в диапазоне 50 мВ/мкс 256 В/мкс с
погрешностью ±
10 % +
0, 5[мкс] SR[В/мкс]
V
0
[В]
%
.
Выходное сопротивление R
out
измеряется согласно табл. 2.9.
Таблица 2.9. Измерение выходного сопротивления
Диапазон Разрешение Погрешность
0 - 2 Ом 10 мОм ± (5 % + 15 мОм)
2 - 20 Ом 100 мОм ± (5 % + 100 мОм)
20 - 200 Ом 1 Ом ± 5 % В
При проведении измерений параметров операционных усилите-
лей напряжения питания +V
CC
и V
CC
могут устанавливаться в
диапазоне 0 50 В при токе нагрузки не более 130 мА. Изменение
напряжения питания V
0
можно установить в диапазоне 0 50 В,
а сопротивление нагрузки R
LOAD
в диапазоне 400 Ом 50 кОм.