Оптические методы в информатике. Лантух Ю.Д. - 45 стр.

световой волны: лишь при этом возникают качественные отличия от традици-
онной ("объемной") оптики.
      Физическую основу интегральной оптики составляют волновые процессы
в плоских оптических волноводах, обычно диэлектрических, иногда полупро-
водниковых; в этой связи правомерен термин "волноводная оптика", который
нередко используется в публикациях расчетно-теоретического характера.
      Конструктивно–технологические особенности нового направления связа-
ны с расположением пленочных элементов в одной плоскости (в плане) – отсю-
да происходит термин "планарная оптика", также получивший некоторое рас-
пространение. При его употреблении обычно имеется в виду не только указан-
ный геометрический фактор, но и то, что при изготовлении интегрально-
оптических элементов широко используются процессы планарной технологии
микроэлектроники: эпитаксия, диффузия и другие.
      Приборную сущность нового направления определяет интеграция функ-
ционально различных оптических и оптоэлектронных элементов в единое уст-
ройство, в схему; отсюда и термин "интегральная оптика", получивший наибо-
лее широкое распространение.
      Оптические волноводы. Оптические волноводы представляют собой
тонкие диэлектрические слои с малыми потерями на рабочих длинах волн.
      Размеры слоев сравнимы с длиной волны света λ , поэтому точность их
изготовления должна быть очень высокой. Толщина волноводных слоев 0,3 - 3
мкм, ширина 1 - 5 мкм.
      Планарный волновод представляет собой пленку с показателем прелом-
ления n 2 , заключенную между двумя слоями из материалов с меньшими значе-
ниями n : n1 и n 2 . В зависимости от характера изменения n планарные вол-
новоды бывают ступенчатыми и градиентными - с плавным изменением пока-
зателя преломления.
      На рисунке 3.2 представлены различные типы волноводных каналов.




     Рисунок 3.2

      Методы изготовления. Ионный обмен: суть этого метода заключается в
том, что при погружении стеклянной подложки в расплав солей, содержащих
ионы тяжелых металлов, происходит частичное замещение ионов стекла более
тяжелыми ионами расплава. В результате показатель преломления поверхност-

                                                                      129