Составители:
Рубрика:
36
торов, влияющих на его качество, виды де фектов паяного соединения
по ТПМ поясняются рис. 11.3.
12. К ОНТР ОЛЬ КАЧЕСТВА ПАЯНЫХ СОЕДИНЕНИЙ
Широко применяемый в производстве 100%-й контроль по внешне-
му виду и электрическим параметрам, а также известные методы нераз-
рушающего конт роля (табл. 12.1–12.3) не дают гарантию полного выяв-
ления дефектов из-за возрастающей плотности монтажа,
миниатюризации и особенностей корпусов ПМИЭТ, у которых частич-
но, а иногда полностью (корпуса микросхем 61-го подтипа) паяные со-
единения закрыты корпусом.
Учитывая рассмотренные виды дефектов во всех предыдущих разде-
лах, их физико-химическую природу, особенности процессов пайки и
конструкций контактных паяных соединений, необх одимо применять вы-
сокоразрешающие, локальные и чувствительные методы контроля. К
этим методам, в первую очередь, относят ся растровая микрос копия с
рентгеновским микроанализом и электронная ОЖЕ-спектрометрия. В
качестве дополнительных средств целесообразно использовать просве-
чивающую электронную микроскопию совместно с электронографией,
рентгенографический и лазерный масс-спектрометрический анализы,
позволяющие исследовать специа льно подготовленные объекты. Для
уточнения места и характера дефекта рекомендуют ся методы неразру-
шающего контроля: рентгенотелевизионная и инфракрасная микроско-
пия; контроль цепей на малых напряжениях; измерение нелинейности
вольтамперных характеристик и шумов. При контроле гальванопокры-
тий и паяных соединений применяются специальные методы измере-
ния толщины, пористости, твердости, прочности и др. [4].
Некоторые из методов неразрушающего контроля рассмотрены в по-
собии [2] на примерах промышленных установок.
Страницы
- « первая
- ‹ предыдущая
- …
- 34
- 35
- 36
- 37
- 38
- …
- следующая ›
- последняя »