Математическое моделирование и методы расчета оптических наноструктур. Ловецкий К.П - 62 стр.

UptoLike

62
преломления. Характеристикой таких материалов часто выступает понятие
«двулучепреломление», определяемое соотношением
eo
n n n
.
При
eo
nn
имеет место положительное двулучепреломление, а при
eo
nn
- отрицательное двулучепреломление.
Ниже (рис. 8-11) приведена общепринятая классификация одноосных
анизотропных материалов в зависимости от соотношения между
значениями
o
и
e
и направлением выделенной оси [8]. При этом угол
нутации
является основным при определении типа материала. Для
различных стандартных положений диэлектрического эллипсоида
приводятся также значения углов Эйлера.
Двухосная пластинка соответствует общему положению одноосного
диэлектрического эллипсоида со значением угла нутации
0 /2


,
(рис.7). Отметим, что в том случае, когда главные оси эллипсоида
совпадают с осями лабораторной системы координат, вместо
,,
A B C

используются обозначения
,,
x y z
.
yxz
Рис. 8. Положительная C-пластинка
В случае одноосной C-пластинки ось C является оптической осью и
расположена перпендикулярно к плоскости пластинки (рис. 8, 9). При