ВУЗ:
Составители:
87
Тема 6. Экспериментальные методы исследования
оптических покрытий
Спектроскопические измерения являются в настоящий момент
стандартными методами изучения оптических свойств как твердых, так и
жидких материалов. Однако большинство развитых методик
ограничивается лишь определением оптических параметров изотропных
материалов. Изучение систем, состоящих из большого количества
анизотропных слоев материалов или же имеющих сложную
геометрическую структуру, ограничено сбором и качественной
интерпретацией экспериментальных данных. Это происходит по
нескольким причинам, и главным образом из-за сложности
математического аппарата, применяемого для описания и моделирования
таких систем.
Лишь в последние годы (в конце ХХ в.) был разработан и обоснован
[11, 17], а затем развит [12], [16] и улучшен [15] достаточно удобный
математический аппарат для численного моделирования взаимодействия
света с анизотропными материалами. Этот аппарат базируется на теории
Максвелла. Для практического же применения, кроме точного
математического описания процесса взаимодействия света с веществом на
наноуровне, необходимо также иметь возможность точного измерения
оптических параметров всего анизотропного образца. Для дизайна
реальных оптических устройств требуется современное высокоточное
оборудование – спектрофотометры, поляриметры, эллипсометры и
профилометры, которые обеспечивали бы необходимую и достаточную
экспериментальную информацию. Владение уникальными методами
математического исследования анизотропных наноструктур и
соответствующими экспериментальными установками позволяет по-
новому рассмотреть физический феномен тонкопленочных покрытий,
Страницы
- « первая
- ‹ предыдущая
- …
- 85
- 86
- 87
- 88
- 89
- …
- следующая ›
- последняя »
